[发明专利]一种集成电路测试的方法和装置在审
| 申请号： | 201610976506.5 | 申请日： | 2016-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN108020769A | 公开（公告）日： | 2018-05-11 |
| 发明（设计）人： | 孙建伟;杨丽宁;胡安稳 | 申请（专利权）人： | 深圳市中兴微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 贾伟;张颖玲 |
| 地址： | 518055 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种集成电路测试的方法，包括：从集成电路M个待检测节点中选择N个节点；M和N均为大于0的整数；实时采集所选择的N个节点的数据，分析后得出集成电路的测试结果；或者，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，控制采集对应节点的数据，分析异常节点的检测结果和数据，确定所述集成电路的故障状态。本发明实施例还公开了一种集成电路测试的装置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路测试的方法，其特征在于，所述方法包括：从集成电路M个待检测节点中选择N个节点；M和N均为大于0的整数；实时采集所选择的N个节点的数据，通过分析所述N个节点的数据，得出所述集成电路的测试结果；或者，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，确定对应节点为异常节点，并生成触发信号，以触发开始采集对应节点的数据；通过分析所述异常节点的检测结果和数据，确定所述集成电路的故障状态；或者，实时采集所选择的N个节点的数据，通过预设的检测方式检测每个选择的节点的数据，得到对应节点的检测结果，在任意一个节点的检测结果为异常时，确定对应节点为异常节点，并生成触发信号，以触发停止采集对应节点的数据；通过分析所述异常节点的检测结果和数据，确定所述集成电路的故障状态。
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