[发明专利]空间分辨率的测试系统在审
| 申请号： | 201610971899.0 | 申请日： | 2016-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN106546610A | 公开（公告）日： | 2017-03-29 |
| 发明（设计）人： | 吴金杰;王鹏;蒋伟;周振杰;廖振宇;余继利 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01N23/00 | 分类号： | G01N23/00;G01V5/00;G01V13/00 |
| 代理公司： | 北京慧诚智道知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11539 | 代理人： | 李楠 |
| 地址： | 100020 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种空间分辨率的测试系统，包括X光机，用于发射CT空间分辨率测试用的X射线；检测标准件，检测标准件具有标准件本体、周期性排布在标准件本体上的测试部和隔离部，所述测试部具有凸起部和凹槽；探测器，X射线通过测试标准件的凸起部和凹槽后被探测器接收，并转化为电信号，将电信号转化为可视化的灰度图像，灰度图像的边缘处具有凹凸特征，随着所述线对的尺寸逐渐减少，所述凹凸特征的尺寸也逐渐减少，当所述凹凸特征点灰度值低点与灰度值高点之差达到第一阈值时，单位长度1MM内的线对数即为对应的空间分辨率。本发明空间分辨率的测试系统，实现了降低加工难度和成本，减少检测时间成本，检测精度更高。 | ||
| 搜索关键词： | 空间 分辨率 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种空间分辨率的测试系统，其特征在于，所述系统包括：X光机，用于发射电子计算机断层扫描CT空间分辨率测试用的X射线；检测标准件，所述检测标准件具有标准件本体、周期性排布在标准件本体上的测试部和隔离部，所述测试部具有凸起部和凹槽，相邻的一组凸起部和凹槽组成一个线对，所述凸起部的厚度和凹槽的深度规律性变化；探测器，所述探测器与所述X光机相对于所述检测标准件对向设置，所述X射线通过所述测试标准件的凸起部和凹槽后被所述探测器接收，并转化为电信号，将所述电信号转化为可视化的灰度图像，所述灰度图像的边缘处具有凹凸特征，随着所述线对的尺寸逐渐减少，所述凹凸特征的尺寸也逐渐减少，当所述凹凸特征点灰度值低点与灰度值高点之差达到第一阈值时，单位长度1MM内的线对数即为对应的空间分辨率。
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