[发明专利]一种DAC电路并行测试系统及并行测试方法在审
| 申请号： | 201610970057.3 | 申请日： | 2016-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN106603074A | 公开（公告）日： | 2017-04-26 |
| 发明（设计）人： | 叶刚 | 申请（专利权）人： | 武汉新芯集成电路制造有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司11212 | 代理人： | 杨立,李蕾 |
| 地址： | 430205 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种DAC电路并行测试系统及并行测试方法，所述的测试系统包括自动测试机ATE和安装于测试载板上的多个被测MCU、控制处理MCU以及与被测MCU一一对应的ADC采样电路，每一个被测MCU中均有一个被测试DAC电路，所述自动测试机ATE与每一个被测MCU以及控制处理MCU连接，控制处理MCU与每一个被测MCU连接以及与每一个ADC采样电路连接。在原有的测试系统中增加高处理能力的控制处理MCU和高精度的ADC采样电路，能够实现对多个被测MCU中的被测试ADC电路同时并行测试，对自动测试机ATE的性能要求不会太高，提供了并行测试能力和测试效率，节约了测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 dac 电路 并行 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种DAC电路并行测试系统，其特征在于，包括自动测试机ATE和安装于测试载板上的多个被测MCU、控制处理MCU以及与被测MCU一一对应的ADC采样电路，每一个被测MCU中均有一个被测试DAC电路，所述自动测试机ATE的输出端与每一个被测MCU的输入端连接，所述自动测试机ATE与所述控制处理MCU连接，所述控制处理MCU的输出端与每一个被测MCU的输入端连接，每一个被测MCU的输出端与对应的ADC采样电路连接，每一个ADC采样电路均与所述控制处理MCU连接；所述自动测试机ATE设置被测MCU进入测试模式，并控制控制处理MCU开始工作；控制处理MCU控制每一个被测MCU中的被测试DAC电路输出模拟测试信号；与每一个被测MCU对应的ADC采样电路采集被测MCU中的被测试DAC电路输出的模拟测试信号，并将模拟测试信号转化为数字测试信号；控制处理MCU接收每一个ADC采样电路输出的数字测试信号，并判数字测试信号是否异常，并将是否异常的测试结果上传给自动测试机ATE。
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