[发明专利]基于水平自校准的抛光表面检测方法及其系统

摘要

本发明公开了基于水平自校准的抛光表面检测方法，涉及图像处理领域，包括如下步骤首先，采集包含目标物体表面的图像，并根据所述原始图像的灰度值，对所得原始图像进行水平校准；然后，根据所述阈值区间Φi，替换原图像像素点的灰度为最后，采集图像灰度变化信息，获取像素灰度波动值，若波动值大于设定阈值，则标记所述工件抛光为不合格。此外，本发明还公开基于水平自校准的抛光表面检测系统。本发明无需人工操作，与工业产线易于集成，节约人力成本，表面检测判定速度快且精确，易于实现工业化。

主权项

基于水平自校准的抛光表面检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1、采集包含目标物体表面的原始图像；步骤S2、根据所述原始图像的灰度值，对所得原始图像进行水平校准；步骤S3、设定I个灰度阈值区间Φi，将经步骤S2处理后图像的各像素点灰度分别替换为各个灰度阈值区间Φi对应的灰度设定值其中，所述I为正整数，所述i满足1≤i≤I；步骤S4、采集经步骤S3处理后图像的横向像素灰度上升个数Hup、横向像素灰度下降个数Hdown；采集经步骤S3处理后图像的纵向像素灰度上升个数Zup、纵向像素灰度下降个数Zdown以及经步骤S3处理后图像像素总个数Sum；所述Sum为正整数；所述Hup、Hdown、Zup、Zdown为自然数；步骤S5、获取灰度平均波动幅值F，所述所述Grayj为经步骤S3处理后图像的各像素点灰度值；所述为经步骤S3处理后图像的平均灰度值；所述j满足1≤j≤Sum；步骤S6、获取像素灰度波动值E，若E>ETH，则发出声光报警；所述所述ETH取值范围为0.01≤ETH≤10；所述ETH为像素灰度波动阈值；所述步骤S2包括：步骤S21、将所述原始图像划分为若干区域Ωk，获取所述原始图像的全局灰度平均值以及各个所述区域Ωk的局部灰度平均值所述Ωk为所述原始图像划分的第k个区域像素集合，所述k为正整数；所述所述YSum为所述原始图像的总像素点，所述YSum为正整数，所述l满足1≤l≤YSum；S22、根据所述全局灰度平均值和各个所述区域的局部灰度平均值比值，对所述原始图像的各个灰度值GYTl进行归一化处理，获得水平校准处理后的灰度值GJZl；所述