[发明专利]一种液晶盒测试电路、显示面板和装置有效

专利信息
申请号: 201610955423.8 申请日: 2016-10-27
公开(公告)号: CN106444107B 公开(公告)日: 2019-08-20
发明(设计)人: 龚强 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;熊永强
地址: 430070 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供了一种用于液晶盒测试电路、显示面板和装置,该测试电路包括:测试使能信号端,用于输入测试使能信号;多个测试数据信号端,用于输入测试数据信号并且按预定规则分组并联;多个第一晶体管,其栅极连接测试使能信号端,源极连接至一一对应的测试数据信号端,漏极连接液晶盒,由测试使能信号控制打开以将测试数据信号输入至液晶盒,其中,在液晶盒测试完毕后,通过控制测试使能信号和测试数据信号,使得多个第一晶体管的栅源极电压为零。本发明可以有效防止测试数据信号通过测试晶体管漏电形成的串扰问题。
搜索关键词: 一种 液晶 测试 电路 显示 面板 装置
【主权项】:
1.一种液晶盒测试电路,包括:测试使能信号端,用于输入测试使能信号;多个测试数据信号端,用于输入测试数据信号并且按预定规则分组并联;多个第一晶体管,其栅极连接所述测试使能信号端,源极连接至一一对应的测试数据信号端,漏极连接液晶盒,由所述测试使能信号控制打开以将所述测试数据信号输入至所述液晶盒,其中,在所述液晶盒测试完毕后,通过控制所述测试使能信号和所述测试数据信号,使得多个第一晶体管的栅源极电压为零;所述测试电路还设置有与任一所述测试数据信号端连接的第二晶体管,其中,所述测试使能信号端与各所述第二晶体管的栅极之间通过一反相器连接,所述第二晶体管的漏极与对应的测试数据信号端连接,所述第二晶体管的源极用于引入栅极关闭信号。
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