[发明专利]阵列基板检测装置及检测方法在审

专利信息
申请号: 201610950549.6 申请日: 2016-10-26
公开(公告)号: CN106601159A 公开(公告)日: 2017-04-26
发明(设计)人: 王文涛;杨璐;徐海峰;王子峰;司晓文;王金锋;姚磊;闫雷 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 代理人: 姜春咸,陈源
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种阵列基板检测装置,包括电极板,用于与待检测的阵列基板相对设置,所述电极板包括多个彼此绝缘的电极部;检测模块,所述检测模块与每个所述电极部均相连,用于检测每个所述电极部上的电信号。相应地,本发明还提供一种利用所述检测装置对阵列基板进行检测的检测方法。本发明能够在对盒形成显示面板之前及时检测出阵列基板的不良。
搜索关键词: 阵列 检测 装置 方法
【主权项】:
一种阵列基板检测装置,其特征在于,包括:电极板,用于与待检测的阵列基板相对设置,所述电极板包括多个彼此绝缘的电极部;检测模块,所述检测模块与每个所述电极部均相连,用于检测每个所述电极部上的电信号。
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