[发明专利]一种测试并定位PMC‑RAID卡内存颗粒问题的方法在审
| 申请号： | 201610925560.7 | 申请日： | 2016-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN106502855A | 公开（公告）日： | 2017-03-15 |
| 发明（设计）人： | 李超 | 申请（专利权）人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/267 | 分类号： | G06F11/267 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司37100 | 代理人： | 刘继枝 |
| 地址： | 450000 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试并定位PMC‑RAID卡内存颗粒问题的方法，一种测试并定位PMC‑RAID卡内存颗粒问题的方法，具体方法如下S1、将测试工具用烧录器烧录到待测的PMC‑RAID卡上；S2、将待测的RAID卡安装到机器上，并连接串口工具到工作电脑上；S3、在工作电脑上使用测试脚本开始测试；S4、多次测试，并收集测试结果，确保问题可以复现；S5、查看测试结果，定位内存颗粒的问题点。本发明可以用于测试和定位PMC‑RAID卡内存颗粒问题，用于解决由于DDR报错而导致的RAID卡卡死以及EEC报错等问题，可以快速定位问题点，加速问题处理和解决的速度，提高公司的服务质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 定位 pmc raid 内存 颗粒 问题 方法 | ||
【主权项】：
一种测试并定位PMC‑RAID卡内存颗粒问题的方法，其特征在于，具体方法如下：S1、将测试工具用烧录器烧录到待测的PMC‑RAID卡上；S2、将待测的RAID卡安装到机器上，并连接串口工具到工作电脑上；S3、在工作电脑上使用测试脚本开始测试；S4、多次测试，并收集测试结果，确保问题可以复现；S5、查看测试结果，定位内存颗粒的问题点。
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