[发明专利]AOI设备测试文件查找方法和系统有效
| 申请号： | 201610921643.9 | 申请日： | 2016-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN106528665B | 公开（公告）日： | 2019-09-03 |
| 发明（设计）人： | 刘柏芳 | 申请（专利权）人： | 广州视源电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F16/583 | 分类号： | G06F16/583;G06K9/62 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 周清华 |
| 地址： | 510530 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种AOI设备测试文件查找方法和系统，该方法包括：获取拍摄待检测PCB板卡生成的图像，得到待测图像，对待测图像进行特征提取得到待测图像的特征描述值，获取预存的各测试文件中模板图像的特征描述值。将待测图像的特征描述值与各模板图像的特征描述值进行比对，得到待测图像与各模板图像的相似度；获取与待测图像相似度最大的模板图像所在的测试文件，作为待检测PCB板卡的测试文件。如此，通过对待检测PCB板卡的图像和测试文件中的模板图像进行分析，找出与待检测PCB板卡对应的测试文件，实现了AOI设备测试之前对测试文件的自动查找，无需人工参与，查找效率高。 | ||
| 搜索关键词： | aoi 设备 测试 文件 查找 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种AOI设备测试文件查找方法，其特征在于，包括：获取拍摄待检测PCB板卡生成的图像，得到待测图像；对所述待测图像进行特征提取，得到所述待测图像的特征描述值；获取各测试文件中模板图像的特征描述值；将所述待测图像的特征描述值与各模板图像的特征描述值进行比对，得到所述待测图像与各模板图像的相似度；获取与所述待测图像相似度最大的模板图像所在的测试文件，并作为所述待检测PCB板卡的测试文件；自动打开所述待检测PCB板卡的测试文件。
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