[发明专利]粒子辐照试样电导率和电阻率的测试方法有效
| 申请号： | 201610847441.4 | 申请日： | 2016-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN106483380B | 公开（公告）日： | 2017-11-17 |
| 发明（设计）人： | 李承亮;束国刚;陈骏;刘飞华;段远刚 | 申请（专利权）人： | 中广核工程有限公司;中国广核集团有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司44202 | 代理人： | 王基才 |
| 地址： | 518124 广东省深圳市大*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种粒子辐照试样电导率的测试方法，其包括以下步骤1)提供粒子辐照试样，其包括已经受辐照的辐照层和未经辐照的基体层；2)将粒子辐照试样的辐照层固定于绝缘基座中；3)自粒子辐照试样的基体层一侧开始逐层打磨去除基体层，直至仅保留粒子辐照试样的辐照层；以及4)测试辐照层的电导率，获得粒子辐照试样的电导率。相对于现有技术，本发明粒子辐照试样电导率的测试方法1)可直接测试出粒子辐照试样的粒子辐照层的电导率；2)测试精度较高，误差非常小；3)试验方案较简单易行，成本低廉。此外，本发明还公开了一种粒子辐照试样电阻率的测试方法。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 辐照 试样 电导率 电阻率 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种粒子辐照试样电导率的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：1)提供粒子辐照试样，粒子辐照试样包括已经受辐照的辐照层和未经辐照的基体层；2)将粒子辐照试样的辐照层固定于绝缘基座中；3)自粒子辐照试样的基体层一侧开始逐层打磨去除基体层，直至仅保留粒子辐照试样的辐照层；以及4)测试辐照层的电导率，获得粒子辐照试样的电导率。
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