[发明专利]一种大口径平面镜拼接检测对准方法有效
| 申请号： | 201610820991.7 | 申请日： | 2016-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN106248352B | 公开（公告）日： | 2018-09-25 |
| 发明（设计）人： | 闫力松;李强;王辉华;陈晓晨;史要涛;姜永亮;许伟才;王玉雷;杨子威 | 申请（专利权）人： | 湖北航天技术研究院总体设计所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 方放 |
| 地址： | 430040*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种大口径平面镜拼接检测对准方法，包括以下步骤：(1)对被检测光学平面反射镜进行子孔径规划，使得各子孔径对被检测光学平面反射镜全口径覆盖；(2)在各子孔径重叠区域粘贴靶标；(3)执行各规划子孔径的干涉检测；(4)在各子孔径干涉检测结果中，分别确定各子孔径的靶标中心坐标；(5)以其中一个子孔为基准，结合各子孔径的靶标中心坐标，传递换算各子孔径的检测结果，完成拼接对准；(6)在完成拼接对准后，对各子孔径检测数据进行拼接处理，得到被检测镜面的全口径面形。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 口径 平面镜 拼接 检测 对准 方法 | ||
【主权项】：
1.一种大口径平面镜拼接检测对准方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)对被检测光学平面反射镜进行子孔径规划；(2)在各子孔径重叠区域粘贴靶标；(3)执行各规划子孔径的干涉检测；(4)在各子孔径干涉检测结果中，分别确定各子孔径的靶标中心坐标；(5)以其中一个子孔径的靶标中心坐标为基准，传递换算各子孔径的靶标中心坐标，进而完成拼接对准；(6)在完成拼接对准后，对各子孔径检测数据进行拼接处理，得到被检测镜面的全口径面形；所述步骤(5)的具体实现方式为：令第一子孔径与第二子孔径有一个重叠区域，该区域内存在一个靶标S1，该靶标在第一子孔径内的中心像素坐标记为T12，在第二子孔径内的中心像素坐标记为T21；第二子孔径与第三子孔径存在一个重叠区域同样该区域内存在一个靶标S2，其在第二子孔径内的中心像素坐标记为T23，在第三子孔径内的中心像素坐标记为T32；分别记第一子孔径、第二子孔径、第三子孔径的检测结果为S1、S2、S3；以第一子孔径的检测结果为基准，通过坐标换算得到第二子孔径对应的检测结果为S2‑(T21‑T12)，通过坐标换算得到第三子孔径对应的检测结果为S3‑(T32‑T23+T12‑T21)；对于多个子孔径，按照上述相同方式完成各子孔径间位置关系传递计算。
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