[发明专利]一种精密平面胶粘结构的微蠕变测试装置在审

专利信息
申请号: 201610797969.5 申请日: 2016-08-31
公开(公告)号: CN106442158A 公开(公告)日: 2017-02-22
发明(设计)人: 张之敬;陈骁;肖木峥;金鑫;叶鑫;王子夫;黄晨灿 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01N3/14 分类号: G01N3/14
代理公司: 北京理工大学专利中心11120 代理人: 高燕燕;仇蕾安
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种精密平面胶粘结构的微蠕变测试装置,测试试件由上下两个零件通过平面胶粘的形式胶粘而成,胶层厚度为设定胶层厚度,其中上部的零件左右两侧设置卡台,下部的零件左右两侧设置卡口;框架为上端开口的矩形框架;测试试件通过卡台卡接固定在所述框架的上端开口处,所述胶粘平面与水平面平行;配重块通过卡口卡接在所述测试试件上;转接板安装于框架底部上表面,非接触式位移传感器安装于转接板侧面,所述胶粘平面位于所述非接触式位移传感器的测量范围之内。本发明能够测量平面胶粘结构的蠕变位移与时间之间的变化关系,并且能够实现制作的试件能够保证胶层厚度是确定值。
搜索关键词: 一种 精密 平面 胶粘 结构 微蠕变 测试 装置
【主权项】:
一种精密平面胶粘结构的微蠕变测试装置,其特征在于,包括框架(1)、测试试件(2)、配重块(3)、非接触式位移传感器(4)、转接板(5);所述测试试件(2)由上下两个零件通过平面胶粘的形式胶粘而成,胶层厚度为设定胶层厚度,其中上部的零件左右两侧设置卡台,下部的零件左右两侧设置卡口;所述框架(1)为上端开口的矩形框架;所述测试试件(2)通过卡台卡接固定在所述框架(1)的上端开口处,所述胶粘平面与水平面平行;所述配重块(3)通过卡口卡接在所述测试试件(2)上;所述转接板(5)安装于框架(1)底部上表面,非接触式位移传感器(4)安装于转接板(5)侧面,所述胶粘平面位于所述非接触式位移传感器(4)的测量范围之内。
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