[发明专利]显示测试方法和装置有效
| 申请号： | 201610789856.0 | 申请日： | 2016-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN106445752B | 公开（公告）日： | 2019-04-12 |
| 发明（设计）人： | 郭春成 | 申请（专利权）人： | 硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 韩建伟;张永明 |
| 地址： | 100086 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种显示测试方法和装置。该方法包括：eDP TCON在BIST模块输出第一图案后，抓取整帧；在BIST模块输出第二图案后，从第二图案中获取选中区域的图案，eDP TCON的存储器中的帧画面更新区域用于指示选中区域的图案的存储位置，预更新区域用于指示选中区域的图案的数据，eDP TCON中的控制寄存器用于控制开启或关闭屏幕自刷新模式2；eDP TCON通过控制寄存器进入屏幕自刷新模式2；将第一图案和第二图案中的选中区域的图案进行混合显示，以对显示进行测试。本发明解决了相关技术中芯片屏幕自刷新功能的测试对eDP source依赖较高，导致测试效率较低、可靠性较差的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 显示 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种显示测试方法，其特征在于，包括：eDP TCON在BIST模块输出第一图案之后，抓取整帧，其中，所述BIST模块用于根据预先配置输出预定分辨率的图案，其中，所述预定分辨率的图案包括所述第一图案和第二图案；所述eDP TCON在所述BIST模块输出所述第二图案之后，从所述第二图案中获取选中区域的图案，其中，所述eDP TCON的存储器中的帧画面更新区域用于指示所述选中区域的图案的存储位置，所述eDP TCON的存储器中的预更新区域用于指示所述选中区域的图案的数据，所述eDP TCON中的控制寄存器用于控制开启或关闭屏幕自刷新模式2；所述eDP TCON通过所述控制寄存器进入所述屏幕自刷新模式2；所述eDP TCON将所述第一图案和所述选中区域的图案进行混合显示，以对显示进行测试。
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