[发明专利]校正光谱漂移的方法及装置在审
| 申请号： | 201610779281.4 | 申请日： | 2016-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN106404173A | 公开（公告）日： | 2017-02-15 |
| 发明（设计）人： | 陈莉;俞晓峰;夏晓峰;丁海波;李锐;洪波 | 申请（专利权）人： | 聚光科技（杭州）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J3/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310052 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种校正光谱漂移的方法及装置，所述校正光谱漂移的方法包括以下步骤(A1)校正光源通过校正入缝射入校正光路，得到校正光源信号；(A2)采集校正光源特征谱线的光谱数据，根据波长与位置的关系式(xi,yi)＝f(λi)获得特征谱线对应的i个初始坐标，其中i≥1；分别以所述i个初始坐标为中心，从X方向和Y方向寻峰得到实际坐标，进而获得i个偏移量(Δxi,Δyi)，通过拟合获得漂移校正系数(δx,δy)＝f(Δxi,Δyi,ωi)，所述X方向和Y方向相互垂直；(A3)待测光源射入主光路，采集待测光源光谱数据，利用所述漂移校正系数对待测光谱的位置进行校正。本发明具有二维寻峰、实时校正，排除主光路干扰等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 校正 光谱 漂移 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种校正光谱漂移的方法，其特征在于：所述校正光谱漂移的方法包括以下步骤：(A1)校正光源通过校正入缝射入校正光路，得到校正光源信号；(A2)采集校正光源特征谱线的光谱数据，根据波长与位置的关系式(xi,yi)＝f(λi)获得特征谱线对应的i个初始坐标，其中i≥1；分别以所述i个初始坐标为中心，从X方向和Y方向寻峰得到实际坐标，进而获得i个偏移量(Δxi,Δyi)，通过拟合获得漂移校正系数(δx,δy)＝f(Δxi,Δyi,ωi)，所述X方向和Y方向相互垂直；(A3)待测光源射入主光路，采集待测光源光谱数据，利用所述漂移校正系数对待测光谱的位置进行校正。
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