[发明专利]一种双工耦合器测试结构及其测试方法在审
申请号: | 201610744545.2 | 申请日: | 2016-08-28 |
公开(公告)号: | CN106301615A | 公开(公告)日: | 2017-01-04 |
发明(设计)人: | 余定展;何勇;陈萌;鄢波;林双;苏敏 | 申请(专利权)人: | 航天恒星科技有限公司 |
主分类号: | H04B17/309 | 分类号: | H04B17/309;H04B17/29;H01P5/12 |
代理公司: | 北京睿驰通程知识产权代理事务所(普通合伙)11604 | 代理人: | 乔双双 |
地址: | 100086 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种双工耦合器测试结构,其特征在于,包括波导转换半基座、波导转换腔端盖和射频信号输出端,波导转换半基座、波导转换腔端盖构成圆波导腔和过渡波导腔,射频信号输出端内部包括矩形波导腔,矩形波导腔和圆波导腔、过渡波导腔连通,在圆波导腔和过渡波导腔内部设有调谐隔膜片。本发明可有效避免了谐振过多所导致的滞机现象,同时可有效避免谐振出现在工作频带内所造成的产品异常工作,最终保证测试结果的有效性和准确性,确保了型号任务的批产及批量测试的高效开展。 | ||
搜索关键词: | 一种 双工 耦合器 测试 结构 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种双工耦合器测试结构,其特征在于,包括波导转换半基座、波导转换腔端盖和射频信号输出端,波导转换半基座、波导转换腔端盖构成圆波导腔和过渡波导腔,射频信号输出端内部包括矩形波导腔,矩形波导腔和圆波导腔、过渡波导腔连通,在圆波导腔和过渡波导腔内部设有调谐隔膜片。
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