[发明专利]一种信号测试方法和装置有效
| 申请号： | 201610738261.2 | 申请日： | 2016-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN107786993B | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 蒋凤林 | 申请（专利权）人： | 深圳市中兴微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | H04W24/02 | 分类号： | H04W24/02;H04W24/04;H04B17/309 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 彭瑞欣;张天舒 |
| 地址： | 518085 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种信号测试方法，接收控制设备发送的与各待测指标对应的序列参数；根据所述序列参数中包括的形式参数，生成上行信号，且根据所述序列参数中包括的测试参数，生成下行测试序列；发送所述上行信号至测试设备，触发所述测试设备根据预先生成的上行测试序列对所述上行信号进行测试，根据所述下行测试序列对所述测试设备发送的下行信号进行测试，得到所述各待测指标的测试结果。本发明实施例还同时公开了一种信号测试装置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 信号 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种信号测试方法，其特征在于，包括：接收控制设备发送的与各待测指标对应的序列参数；根据所述序列参数中包括的形式参数，生成上行信号，且根据所述序列参数中包括的测试参数，生成下行测试序列；发送所述上行信号至测试设备，触发所述测试设备根据预先生成的上行测试序列对所述上行信号进行测试，根据所述下行测试序列对所述测试设备发送的下行信号进行测试，得到所述各待测指标的测试结果。
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