[发明专利]基于结构光和数字散斑测量高温物体位移和形变的装置有效
| 申请号： | 201610712823.6 | 申请日： | 2016-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN106197290B | 公开（公告）日： | 2019-01-18 |
| 发明（设计）人： | 何立平;孙红胜;张玉国;邱超;吴柯萱 | 申请（专利权）人： | 北京振兴计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G01B11/16 |
| 代理公司： | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 | 代理人： | 马东伟;张春 |
| 地址： | 100074 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于结构光和数字散斑测量高温物体位移和形变的装置，包括：结构光激光器，用于输出单色结构光并照射到被测物体表面；激光测距单元，用于获得被测物体表面到光电探测单元的距离；光学成像单元，用于将被测物体表面的单色结构光图像成像在光电探测单元上；光电探测单元，用于采集成像的图像并发送给数据处理单元；数据处理单元，用于对光电探测单元发来的图像以及所述被测物体表面到光电探测单元的距离进行计算，得到所述被测量物体在高温状态下的位移和形变。本发明可以用于测量物体在高温状态下的位移和形变。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 结构 光和 数字 测量 高温 物体 位移 形变 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基于结构光和数字散斑测量高温物体位移和形变的装置，其特征在于，包括：结构光激光器，用于输出单色结构光并照射到被测物体表面；激光测距单元，用于获得被测物体表面到光电探测单元的距离；光学成像单元，用于将被测物体表面的单色结构光图像成像在光电探测单元上；光电探测单元，用于采集成像的图像并发送给数据处理单元；数据处理单元，用于对光电探测单元发来的图像以及所述被测物体表面到光电探测单元的距离进行计算，得到所述被测量物体在高温状态下的位移和形变。
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