[发明专利]一种基于衍射光栅的液晶相位调制特性的测量方法有效
| 申请号： | 201610707167.0 | 申请日： | 2016-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN106125364B | 公开（公告）日： | 2019-06-04 |
| 发明（设计）人： | 杜升平;傅承毓;黄永梅;罗传欣;徐少雄 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610209 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： |
本发明提出一种基于衍射光栅的液晶相位调制特性的测量方法，该方法利用液晶构建相位调制分别为0和 |
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| 搜索关键词： | 一种 基于 衍射 光栅 液晶 相位 调制 特性 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于衍射光栅的液晶相位调制特性的测量方法，其特征在于：包括以下步骤：在液晶上构建相位光栅，液晶电极供电电压可调整，用光电传感器接收激光通过液晶上构建相位光栅后的第0级衍射光强，通过理论计算衍射屏处第0级衍射光强与相位值的对应关系，以及实测的光强和PWM波脉宽的对应关系，就测出了相位值与PWM波脉宽的对应关系，即测出了液晶相位调制特性。
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