[发明专利]一种用于快中子通量的测量装置及其测量方法有效
| 申请号： | 201610646311.4 | 申请日： | 2016-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN106199678B | 公开（公告）日： | 2019-02-01 |
| 发明（设计）人： | 单卿;孔智灵;贾文宝;凌永生;黑大千 | 申请（专利权）人： | 南京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01T3/00 | 分类号： | G01T3/00 |
| 代理公司： | 江苏圣典律师事务所 32237 | 代理人： | 贺翔 |
| 地址： | 210016 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于快中子通量的测量装置及其测量方法，其中测量方法包括以下步骤：利用高密度聚乙烯层和钛层将快中子转换成次级光子；采集包含钛能量为4.51keV的特征X射线的次级光子；分析处理采集的信号；分析并显示出入射快中子通量。本发明利用多道分析器接收中子与高密度聚乙烯层和钛层反应生成的次级光子，通过分析所获取次级光子中钛的能量为4.51keV的特征X射线全能峰的计数来测量快中子通量。该方法具有中子通量测量精度高的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 快中子 通量 测量 装置 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于快中子通量的测量装置，其特征在于：包括产生快中子的快中子源，沿快中子飞行的方向依次放置的高密度聚乙烯层、钛层和X荧光探测器，将快中子源位于其内的源防护体，为X荧光探测器提供工作电压的电源，与X荧光探测相连接的放大器，多道分析器，信号传输系统，与信号传输系统相连的数据处理系统以及与数据处理系统相连的显示系统，所述放大器与多道分析器的输入端相连接，多道分析器的输出端连接信号传输系统，并将多道分析器处理后的信号通过信号传输系统传输给数据处理系统，所述高密度聚乙烯层与钛层相连接，快中子源和X荧光探测器分别位于高密度聚乙烯和钛层的两侧。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京航空航天大学，未经南京航空航天大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610646311.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
