[发明专利]探针单元、阵列基板的检测设备及检测方法有效
| 申请号： | 201610587484.3 | 申请日： | 2016-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN106019654B | 公开（公告）日： | 2019-05-14 |
| 发明（设计）人： | 刘海峰;张涛;尚浩;王备 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01R1/067;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 胡萌 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种探针单元、阵列基板的检测设备及检测方法，涉及显示技术领域，能够解决现有的阵列基板的检测设备适用范围窄的问题，降低检测成本。其中所述探针单元包括M个探针，用于输出不同检测信号的N个检测信号端，及多个控制开关，所述多个控制开关分成M组，每组包括N个控制开关，M组控制开关一一对应地控制所述M个探针，每组的N个控制开关均与对应的探针电连接，且每组的N个控制开关一一对应地与所述N个检测信号端电连接；其中，M≥2，且N≥2。上述探针单元用于对阵列基板进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 探针 单元 阵列 检测 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种探针单元，用于阵列基板的检测设备中，包括M个探针，及用于输出不同检测信号的N个检测信号端，其特征在于，所述探针单元还包括多个控制开关，所述多个控制开关分成M组，每组包括N个控制开关，M组控制开关一一对应地控制所述M个探针，每组的N个控制开关均与对应的探针电连接，且每组的N个控制开关一一对应地与所述N个检测信号端电连接；其中，M≥2，且N≥2。
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