[发明专利]含碳化物钢铁材料中残余奥氏体含量的测量方法有效
申请号: | 201610583777.4 | 申请日: | 2016-07-22 |
公开(公告)号: | CN106290358B | 公开(公告)日: | 2018-08-24 |
发明(设计)人: | 周顺兵;姚中海;韩荣东;王志奋;吴立新 | 申请(专利权)人: | 武汉钢铁有限公司 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84;G01N23/207 |
代理公司: | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人: | 王和平 |
地址: | 430083 湖北省*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明涉及一种钢铁材料中残余奥氏体含量的测量方法,尤其是涉及含碳化物钢铁材料中残余奥氏体含量的测量方法。本发明采用图像分析仪测量出金相试样中碳化物残余奥氏体体积分数,然后结合X射线衍射仪,测量出金相试样中残余奥氏体体积分数。本发明排除了金相试样中碳化物对残余奥氏体含量的影响,操作简单,得到的测量结果准确。 | ||
搜索关键词: | 碳化物 钢铁 材料 残余 奥氏体 含量 测量方法 | ||
【主权项】:
1.含碳化物钢铁材料中残余奥氏体含量的测量方法,包括以下步骤:a、将含碳化物钢铁材料制成金相试样,通过金相技术测量出金相试样中碳化物和残余奥氏体的总量,即测量出Vc+Va的大小K(测量),得到公式:Vc+Va=K(测量);其中:Vc为金相试样中碳化物的体积分数;Va为金相试样中残余奥氏体的体积分数;K(测量)为金相试样中碳化物的体积分数和残余奥氏体的体积分数之和;b、采用X射线衍射仪收集金相试样的X射线图谱,X射线图谱中包含碳化物晶面、残余奥氏体晶面和马氏体晶面的衍射峰,按照行业标准YB/T5338‑2006的要求,选择残余奥氏体(200)晶面、残余奥氏体(220)晶面、残余奥氏体(311)晶面的衍射峰,选择马氏体(200)晶面、马氏体(211)晶面的衍射峰,每个残余奥氏体的衍射峰分别与一个马氏体的衍射峰组成一对衍射峰,共组成六对衍射峰,每一对衍射峰都能满足公式:Va=(1‑Vc)/[1+G(Im(hkl)/Ia(hkl))]的要求,其中:Im(hkl)是试样中马氏体相(hkl)晶面衍射线的累积强度;Ia(hkl)是试样中奥氏体相(hkl)晶面衍射线的累积强度;G是试样中奥氏体相(hkl)晶面与马氏体相(hkl)晶面所对应的强度有关因子之比;将得到的六对衍射峰所对应的累积强度值分别带入到上述公式中,即可得到六个方程式,然后将上述得到的六个方程式与步骤a中的公式组成六组方程组,分别求解六个方程组,得到六个Va的值,将六个Va的值取平均值即可求得金相试样中残余奥氏体的含量。
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