[发明专利]应用测试方法和装置在审
| 申请号： | 201610555124.5 | 申请日： | 2016-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN107622007A | 公开（公告）日： | 2018-01-23 |
| 发明（设计）人： | 何晔 | 申请（专利权）人： | 北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司11204 | 代理人： | 王达佐,马晓亚 |
| 地址： | 100080 北京市海淀区杏石口路6*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了应用测试方法和装置。所述方法的一具体实施方式包括获取对应用进行测试的候选测试用例集合，其中，应用包括至少一个应用子功能，每个应用子功能与用于对该应用子功能进行测试的测试用例相对应；从至少一个应用子功能中确定待用于测试的应用子功能集合，其中，应用子功能集合包括以下至少一项按照应用子功能的缺陷数由多到少的顺序选取的预定数目的应用子功能；具有最大损失期望值的应用子功能，最大损失期望值是根据应用子功能的历史缺陷数据进行分析得出的；从候选测试用例集合中获取与应用子功能集合对应的测试用例集合；利用测试用例集合对应用进行测试。该实施方式实现了富于针对性的应用测试。 | ||
| 搜索关键词： | 应用 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种应用测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：获取对应用进行测试的候选测试用例集合，其中，所述应用包括至少一个应用子功能，每个应用子功能与用于对该应用子功能进行测试的测试用例相对应；从所述至少一个应用子功能中确定待用于测试的应用子功能集合，其中，所述应用子功能集合包括以下至少一项：按照应用子功能的缺陷数由多到少的顺序选取的预定数目的应用子功能；具有最大损失期望值的应用子功能，所述最大损失期望值是根据应用子功能的历史缺陷数据进行分析得出的；从所述候选测试用例集合中获取与所述应用子功能集合对应的测试用例集合；利用所述测试用例集合对所述应用进行测试。
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