[发明专利]一种微型毛细管X光透镜聚焦同位素放射源的X射线荧光谱仪在审

专利信息
申请号: 201610548611.9 申请日: 2016-07-13
公开(公告)号: CN106248706A 公开(公告)日: 2016-12-21
发明(设计)人: 段泽明;程琳;王君玲;李融武;潘秋丽 申请(专利权)人: 北京师范大学
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100875*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提出一种微型毛细管X光透镜聚焦同位素放射源的X射线荧光谱仪。用毛细管X光透镜会聚同位素放射源衰变时的放出X射线和γ射线,要求放射源做成点状,入射样品的角度一般为45°,并且是一种微束X射线,能够测量几百微米大小的样品,将能量色散X射线荧光技术和毛细管X光透镜技术进行结合,提出一种袖珍式的鉴别试样中元素种类及其含量的低成本、高分辨率的微型X射线荧光谱仪。
搜索关键词: 一种 微型 毛细管 透镜 聚焦 同位素 放射源 射线 荧光
【主权项】:
一种微型毛细管X光透镜聚焦同位素放射源的X射线荧光谱仪,其特征在于,包括:直径50微米点状的Am‑241同位素放射源,毛细管X光透镜,SDD X射线探测器,样品台,电子学系统,计算机或显示屏和存储卡;所述直径50微米点状的Am‑241同位素放射源位于样品台的左侧的斜上方,与水平面成45度角,所述直径50微米点状的Am‑241同位素放射源发出的X射线和γ射线通过毛细管X光透镜以45度的角度照射在所述样品台上的待探测样品上;所述SDD X射线探测器位于所述样品台的右侧的斜上方;从样品激发出的元素特征X射线进入SDD X射线探测器和电子学系统后在计算机或显示屏显示或直接保存在存储卡中。所述毛细管X光透镜长度L为121.2mm;所述直径50微米点状的Am‑241同位素放射源距离毛细管X光透镜前端距离为42.5mm;所述毛细管X光透镜后端距离样品为27.6mm。
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