[发明专利]一种微波放大器热态反射函数测试装置及方法有效
申请号: | 201610524492.3 | 申请日: | 2016-07-05 |
公开(公告)号: | CN106130669B | 公开(公告)日: | 2018-03-13 |
发明(设计)人: | 杨保国;年夫顺;王尊峰;李树彪;梁胜利;黎明敏;曹志英;李卓明;张庆龙;赵立军 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
主分类号: | H04B17/29 | 分类号: | H04B17/29 |
代理公司: | 济南舜源专利事务所有限公司37205 | 代理人: | 王连君 |
地址: | 266555 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明公开了一种微波放大器热态反射函数测试装置及方法,属于测试领域,包括频率参考模块、第一信号源、第二信号源、本振源、接收机、耦合器、环形器以及负载。本发明的反向输入源和正向输入源频率相同,比频偏法热态参数测试更准确;不需要两个源锁定相位并进行相位旋转控制,不需要复杂的校准工作,硬件条件要求低,快速测试微波放大器热态反射函数以及放大器增益、输入匹配、反向隔离、冷态反射函数等参数,测试过程更方便快捷。 | ||
搜索关键词: | 一种 微波 放大器 反射 函数 测试 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种微波放大器热态反射函数测试装置,其特征在于:包括频率参考模块、第一信号源、第二信号源、本振源、接收机、耦合器、环形器以及负载;所述频率参考模块,被配置为用于为第一信号源、第二信号源和本振源提供参考频率信号;所述第一信号源,被配置为用于为被测放大器提供激励信号;所述第二信号源,被配置为用于为被测放大器提供反向激励信号;所述本振源,被配置为用于为接收机提供本振信号;所述接收机,包括用于测试第一信号源的输出信号的R1接收机、用于测试被测放大器的正向反射信号的A接收机、用于测试第二信号源的输出信号的R2接收机以及用于测试被测放大器的输出信号以及反向反射信号的B接收机;所述接收机主要由混频模块、A/D采样模块以及中频处理模块组成;所述混频模块,被配置为用于将进入接收机的信号与本振源产生的本振信号进行混频输出中频信号;所述A/D采样模块,被配置为用于将中频信号进行采样转换成数字信号;所述中频处理模块,被配置为用于处理数字信号,计算接收信号的幅度和相位;所述耦合器,包括第一耦合器、第二耦合器和第三耦合器;所述第一耦合器,被配置为用于从第一信号源的激励信号耦合部分信号送入R1接收机,以及从被测放大器的正向反射信号耦合部分信号送入A接收机;所述第二耦合器,被配置为用于从第二信号源的反向激励信号耦合部分信号送入R2接收机;所述第三耦合器,被配置为用于从被测放大器的输出信号以及反向反射信号耦合部分信号送入B接收机;所述环形器,被配置为用于将被测放大器的输出信号以及反向反射信号加载至负载,并将第二信号源输出的反向激励信号加载至被测放大器的输出端;所述负载,被配置为用于吸收被测放大器的输出信号和反向反射信号;频率参考模块为第一信号源、第二信号源和本振源提供参考频率信号;第一信号源输出激励信号,其中一小部分激励信号经过第一耦合器的耦合进入R1接收机,大部分激励信号经过被测放大器的输入端进入被测放大器,其中产生的正向反射信号经过被测放大器的输入端输出,经过第一耦合器的耦合进入A接收机,产生的输出信号经过被测放大器的输出端输出,其中一小部分输出信号经过第三耦合器的耦合进入B接收机,大部分输出信号经过环形器加载至负载被负载吸收;第二信号源输出反向激励信号,其中一小部分反向激励信号经过第二耦合器的耦合进入R2接收机,大部分反向激励信号经过环形器、第三耦合器、被测放大器的输出端进入被测放大器,产生的反向反射信号和输出信号经过被测放大器的输出端输出,其中一小部分反向反射信号及输出信号经过第三耦合器的耦合进入B接收机,大部分反向反射信号及输出信号经过环形器加载至负载被负载吸收;进入R1接收机、R2接收机、A接收机和B接收机中的信号分别与本振源产生的本振信号经过混频模块的混频输出中频信号至A/D采样模块,A/D采样模块将中频信号进行采样转换成数字信号输出至中频处理模块;中频处理模块对数字信号进行处理,计算处接收信号的幅度和相位。
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