[发明专利]一种投影仪光机检测方法及投影仪在审
申请号: | 201610478456.8 | 申请日: | 2016-06-27 |
公开(公告)号: | CN107544199A | 公开(公告)日: | 2018-01-05 |
发明(设计)人: | 杨光;董苏袁;马征;李晨阳;李小平 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | G03B21/00 | 分类号: | G03B21/00;G03B21/53 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司11243 | 代理人: | 许静,黄灿 |
地址: | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种投影仪光机检测方法及投影仪,所述检测方法包括对投影仪光机进行Home点校准,通过指令控制投影仪光机进行自动对焦,获取新的对焦参数,再通过推算和优化生成校准参数,将校准参数存储进光机芯片;光机重启后,再次投影时就会直接调用校准参数进行对焦,达到更好的自动对焦效果。所述检测方法还可包括Home点校准后的自动对焦终测,自动对焦终测是对光机Home点校准结果一种检测,可方便的衡量光机Home点校准是否成功本发明还提供了投影仪,所述投影仪具有执行各项检测方法的单元模块。 | ||
搜索关键词: | 一种 投影仪 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种投影仪光机检测方法,其特征在于,包括对投影仪光机进行Home点校准,所述Home点校准的步骤包括:自动对焦并获取焦距f0:执行自动对焦并获得投影镜头自动对焦后的实际的焦距f0;计算校准参数:在投影距离范围内遍历相距v,根据所述焦距f0计算获得多个分别对应相距v的物距u的值,以所述相距v和所述物距u的对应关系和数值作为所述校准参数;检验校准参数:以2f0>u>f0为条件对所述校准参数中的所述物距u的值分别进行检验,统计不满足所述条件的失败次数;若所述失败次数小于失败阈值,则从所述自动对焦开始重新执行校准,若失败次数大于等于所述失败阈值,所述Home点校准结束。
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