[发明专利]利用耦合微波成像信息的敏感场的电容层析成像方法在审
| 申请号： | 201610452199.0 | 申请日： | 2016-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN106153691A | 公开（公告）日： | 2016-11-23 |
| 发明（设计）人： | 叶佳敏;吴蒙;王海刚 | 申请（专利权）人： | 中国科学院工程热物理研究所 |
| 主分类号： | G01N27/22 | 分类号： | G01N27/22 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种利用耦合微波成像信息的敏感场的电容层析成像方法，包括步骤：获得电容层析成像系统的泊松方程；利用微波成像信息获取介电常数的分布，根据该分布通过有限元方法求解泊松方程获得测量区域的电势分布；利用电势分布获得敏感场分布；以及利用敏感场和重构图像算法进行图像重构。本发明的融合微波成像的电容层析成像算方法，能减小重构图像误差、提高求解速度。该成像方法应用于循环流化床和包衣等过程时，可以实时获得更精确的气固浓度分布图像，实现对上述过程的更有效的监控。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 耦合 微波 成像 信息 敏感 电容 层析 方法 | ||
【主权项】：
一种利用耦合微波成像信息的敏感场的电容层析成像方法，其特征在于包括步骤：S1：获得电容层析成像系统的泊松方程；S2：利用微波成像信息获取介电常数的分布，根据该分布通过有限元方法求解泊松方程获得测量区域的电势分布；S3：利用电势分布获得敏感场分布；以及S4：利用敏感场和重构图像算法进行图像重构。
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