[发明专利]次氯酸钠低含量金属盐ICP测定前处理方法在审
| 申请号： | 201610429050.0 | 申请日： | 2016-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN106124484A | 公开（公告）日： | 2016-11-16 |
| 发明（设计）人： | 杨忠明;王露;李辉;张曼玲;杨文琴 | 申请（专利权）人： | 重庆天原化工有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73;G01N1/34;G01N1/38 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 40000*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种次氯酸钠低含量金属盐ICP测定前处理方法；目的是提供一种适用于快速准确测定次氯酸钠低含量金属盐、对ICP仪器损害较小的次氯酸钠低含量金属盐ICP测定前处理方法。用硝酸先将样品溶液调至中性后，再加入过氧化氢除去有效氯，最后再加硝酸对待测溶液进行处理使得进入ICP仪的样品溶液酸度pH值不大于2.0。采用本发明方法测定次氯酸钠中低含量金属盐具有如下优点：可方便、快速、准确地检测出样品中多种低含量元素，检出结果稳定性好，标准物质的回收率高。 | ||
| 搜索关键词： | 次氯酸 含量 金属 icp 测定 处理 方法 | ||
【主权项】：
次氯酸钠低含量金属盐ICP测定前处理方法，其特征在于：用硝酸先将样品溶液调至酸性后，再加入过氧化氢除去有效氯，最后再加硝酸对待测溶液进行处理使得进入ICP仪的样品溶液酸度pH值不大于2.0。
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