[发明专利]低介电常数温度稳定型多层电容器瓷介材料及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201610382162.5 申请日: 2016-06-01
公开(公告)号: CN106083019A 公开(公告)日: 2016-11-09
发明(设计)人: 陈永虹;谢显斌;林志盛;黄详贤;吴金剑;张子山;蔡劲军 申请(专利权)人: 福建火炬电子科技股份有限公司
主分类号: C04B35/20 分类号: C04B35/20;C04B35/622;H01G4/12;H01G13/00
代理公司: 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 代理人: 李秀梅
地址: 362000 福建省泉州*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明涉及一种低介电常数温度稳定型多层电容器瓷介材料及其制备方法,其原料组分及百分比含量为:[a wt%(xMO‑ySiO2)+b wt%CaAlSiO+c wt%CT+d wt%CeO2],其中:x=0.9~2.2,y=0.9~2.0,为(xMO‑ySiO2)的摩尔百分比含量;a=60~90,b=0~7,C=8~15,d=0~0.2,a,b,c,d均是所加原料的质量百分比含量;M为Mg,Zn中的一种或者多种;CaAlSiO为Ca2Al2SiO7或CaAl2Si2O8;CT为CaTiO3或者TiO2。采用本发明的瓷介材料制成的温度稳定型多层陶瓷电容器生产工艺简单、制作成本低,具有低介电常数、低介电损耗、高温度稳定性且可调,适合更高频率的应用。
搜索关键词: 介电常数 温度 稳定 多层 电容器 材料 及其 制备 方法
【主权项】:
低介电常数温度稳定型多层电容器瓷介材料,其特征在于:其原料组分及百分比含量为:[a wt%(xMO‑ySiO2)+b wt%CaAlSiO+c wt%CT+d wt%CeO2],其中:x=0.9~2.2,y=0.9~2.0,为(xMO‑ySiO2)的摩尔百分比含量;a=60~90,b=0~7,C=8~15,d=0~0.2,a,b,c,d均是所加原料的质量百分比含量;M为Mg,Zn中的一种或者多种;CaAlSiO为Ca2Al2SiO7或CaAl2Si2O8;CT为CaTiO3或者TiO2
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