[发明专利]一种用于测量S形试件的装卡工作台有效
申请号: | 201610377017.8 | 申请日: | 2016-05-31 |
公开(公告)号: | CN106052627B | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | 何改云;桑一村;郭龙真;张贺帅;孙静静 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01B21/30 | 分类号: | G01B21/30;B25B11/00 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 刘子文 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于测量S形试件的装卡工作台,由从下到上依次设置的X轴平移台、Y轴平移台和Y轴转台构成,所述X轴平移台、Y轴平移台和Y轴转台上分别安装有第一伺服电机、第二伺服电机和第三伺服电机,X轴平移台和Y轴平移台的上表面分别设有第一凹槽和第二凹槽,所述第一凹槽内设有与第一伺服电机相连的带有丝杠螺母的第一丝杠;第二凹槽内设置有与第一丝杠相垂直的第二丝杠,第二丝杠的一端与第二伺服电机相连;Y轴转台的一侧设有与第三伺服电机相连的蜗杆,Y轴转台的中部设有与所述蜗杆相啮合的回转支承轴承,回转支撑轴承上连接有用于卡接S形试件的卡盘。本发明保证S形试件的完整,并大大提高了测量效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 测量 形试件 工作台 | ||
【主权项】:
1.一种用于测量S形试件波纹度与粗糙度的检测方法,其特征在于,通过用于测量S形试件的装卡工作台实现测量,装卡工作台可安装于微观轮廓检测仪,微观轮廓检测仪包括工作平台、驱动箱和传感器;所述装卡工作台由从下到上依次设置的X轴平移台、Y轴平移台和Y轴转台构成,所述X轴平移台、Y轴平移台和Y轴转台上分别安装有第一伺服电机、第二伺服电机和第三伺服电机,X轴平移台和Y轴平移台的上表面分别设有第一凹槽和第二凹槽,所述第一凹槽内设有与所述第一伺服电机相连的带有丝杠螺母的第一丝杠,所述第一丝杠的两侧分别设有第一导轨和第二导轨;所述Y轴平移台的底部设有与所述第一丝杠相连的第一连接孔,所述第一连接孔的两侧分别设有与所述第一导轨和第二导轨相连接的底托,所述第二凹槽内设置有与所述第一丝杠相垂直的第二丝杠,所述第二丝杠的一端与所述第二伺服电机相连,第二丝杠的两侧分别设有第三导轨和第四导轨;所述Y轴转台的底部设有与所述第二丝杠相连的第二连接孔,所述第二连接孔的两侧分别设有与所述第三导轨和第四导轨相连接的底托,所述Y轴转台的一侧设有与所述第三伺服电机相连的蜗杆,Y轴转台的中部设有与所述蜗杆相啮合的回转支承轴承,所述回转支承 轴承上连接有用于卡接S形试件的卡盘;所述装卡工作台具有沿Y轴旋转的自由度,检测过程中S形试件经过旋转后,传感器可沿着水平方向测量;装卡工作台具有沿Y轴平动的自由度,用于实现多母线测量以保证完整地反映S形试件的测量;所述Y轴转台具有X轴方向的平动自由度,以弥补驱动箱沿X轴方向的传动距离;具体包括以下步骤:(1)确定检测需求;(2)规划检测位置;采用等弧长均布的方式,即采样位置中心之间间隔弧长相等;以通过增加采样位置的方法完整的对S形试件的表面质量进行评测;同时分别对各母线进行检测;(3)进行坐标系转换与运动位移计算;(4)通过手动操作使传感器测针与S形试件表面接触,并找准第一个检测位置的转盘转角与轮廓仪传感器位置,从而建立测量坐标系,进行检测并最终完成测量。
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