[发明专利]复杂形状零件内部缺陷分布式超声无损检测装置及方法有效

专利信息
申请号: 201610349567.9 申请日: 2016-05-24
公开(公告)号: CN105954359B 公开(公告)日: 2019-01-25
发明(设计)人: 华林;汪小凯;许善燎;宋雨珂;王彬 申请(专利权)人: 武汉理工大学
主分类号: G01N29/07 分类号: G01N29/07;G01N29/06
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 朱宏伟;唐万荣
地址: 430070 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种复杂形状零件内部缺陷分布式超声无损检测装置及方法,其装置包括依次连接的超声检测仪、滤波及放大模块、A/D转换模块和计算机,所述超声检测仪与超声低频探头或超声高频探头连接;所述方法包括以下步骤:采用多次底波法测量声波在被检测零件中的传播速度;检测缺陷的大致位置;准确重构缺陷的轮廓。本发明对超声探头传来的信号以及输入的参数进行处理,通过多组曲线包络重构缺陷,智能化程度高。采用分布式探头,探头体积小测量精度高,可以在一个比较大的区域内接收信号,避免ALOK法中经常收不到信号的情况。
搜索关键词: 复杂 形状 零件 内部 缺陷 分布式 超声 无损 检测 装置 方法
【主权项】:
1.一种复杂形状零件内部缺陷分布式超声无损检测装置的检测方法,其特征在于,复杂形状零件内部缺陷分布式超声无损检测装置包括依次连接的超声检测仪、滤波及放大模块、A/D转换模块和计算机,所述超声检测仪与多个超声低频探头或多个超声高频探头连接,任意一个超声低频探头发射超声波时,其它超声低频探头接收超声波,任意一个超声高频探头发射超声波时,其它超声高频探头接收超声波;检测方法包括以下步骤:S1、采用多次底波法测量声波在被检测零件中的传播速度;S2、在被测零件的表面均匀布置多个超声低频探头;S3、选择其中一个超声低频探头发射超声波,其它超声低频探头接收超声波,接收到的超声波的波形在超声检测仪的显示出来,超声波幅值的波形数据经过滤波及放大模块、A/D转换模块处理后传到计算机,计算机将接收到的信号保存,计算机采集各个探头的位置坐标,将探头位置坐标和波形数据作为输入数据,得到一组轮廓曲线;S4,通过将不同的超声低频接收探头作为发射超声波的探头,其它的超声低频探头接收超声波,重复步骤S3得到多组轮廓曲线,通过多组轮廓曲线共同包络成缺陷的轮廓,从而定位缺陷的大致位置;S5、在步骤S4中定位的缺陷大致位置的附近均匀布置多个超声高频探头;S6、选择其中一个超声高频探头发射超声波,其它超声高频探头接收超声波,接收到的超声波的波形在超声检测仪的显示出来,超声波幅值的波形数据经过滤波及放大模块、A/D转换模块处理后传到计算机,计算机将接收到的信号保存,计算机采集各个探头的位置坐标,将探头位置坐标和波形数据作为输入数据,得到一组轮廓曲线;S7、通过将不同的超声高频接收探头作为发射超声波的探头,其它的超声高频探头接收超声波,重复步骤S6得到多组轮廓曲线,通过多组轮廓曲线准确的重构缺陷。
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