[发明专利]一种二硫化钨单层薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 201610348875.X 申请日: 2016-05-23
公开(公告)号: CN106007796B 公开(公告)日: 2018-03-20
发明(设计)人: 孟秀清;汤宁;方允樟;黄仕华;叶慧群;楼刚 申请(专利权)人: 浙江师范大学
主分类号: C23C16/30 分类号: C23C16/30
代理公司: 杭州宇信知识产权代理事务所(普通合伙)33231 代理人: 黄铁军
地址: 321004 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种二硫化钨单层薄膜的制备方法,采用CVD方法,以纯度为99.99%高纯三氧化钨作为钨源和纯度为99.9%高纯硫作为硫源,以纯度为99.999%的高纯氩气作为载气,以纯度为99.999%的氢气作为反应催化气体,以蓝宝石衬底作为反应衬底,制备而成。本发明具有简单易行、能获得大尺寸高质量二硫化钨薄膜材料的优点,是一种既经济实惠又简单的制备方法。
搜索关键词: 一种 硫化 单层 薄膜 制备 方法
【主权项】:
一种二硫化钨单层薄膜的制备方法,其特征在于包括如下步骤:A.采用CVD方法,以蓝宝石衬底作为反应衬底,将蓝宝石衬底切割成1*1~1*4厘米尺寸后,在H2SO4:H2O2=3:1‑5:1的混合溶液中洗涤,并用纯度为18兆欧的去离子水冲洗衬底表面,以形成均匀的表面能;B.称取1~4克的纯度为99.99%的三氧化钨作为钨源,置于陶瓷舟中,按S:WO3摩尔比为3~7:1称取纯度为99.9%的硫置于另一陶瓷舟中作为硫源,将钨源置于水平管式反应炉恒温区位置,将清洗后的蓝宝石衬底置于钨源下端低温区,将硫源置于钨源上端管式炉进气口处,加热前对水平管式反应炉预抽真空,将反应炉内空气排除干净,然后通入10~50sccm纯度为99.999%的氩气,通过调节抽气速率保持系统压力为0.5‑2Torr;C.将系统作为一个整体进行升温,使系统在20~40分钟内由室温升温到800‑900度,并在3~10分钟内由800‑900度缓慢升温到825‑915度,当系统温度达到700‑800度时开始对硫源进行辅助升温,控制硫源的升温速度,使硫源温度在5~7分钟内达到180~250度;D.在对硫源开始加热的同时向系统内通入纯度为99.999%的氢气,使氢气与氩气体积比例保持在1:5~1:10,并通过调节机械泵抽气速率,使反应系统压力保持在0.5‑2Torr,反应进行10‑60分钟;E.反应完毕,系统自然降温,当系统温度降低至室温时,关闭系统,取出样品。
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