[发明专利]测试电视机DRAM系统信号完整性的方法有效
| 申请号： | 201610313488.2 | 申请日： | 2016-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN106057247B | 公开（公告）日： | 2019-03-22 |
| 发明（设计）人： | 钟宇;曾广智;郑晓丽;汪海林;王沛君 | 申请（专利权）人： | 四川长虹电器股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 四川省成都市天策商标专利事务所 51213 | 代理人： | 谭德兵 |
| 地址： | 621000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试电视机DRAM系统信号完整性的方法，在主芯片SOC端固定数据时钟DQS或数据DQ中的一项，调整另一项的输出时间，人为调整数据DQ与数据时钟DQS之间的相位PHASE关系，对DRAM中的每一组数据位进行逐一测试，若某一组相位PHASE在正常工作时已比较临界，则其可调整的范围最窄，从而判别其为实际工作中条件最为恶劣的数据位组数；选取工作情况最为恶劣的一组进行硬件的SI(信号完整性)测试，从而更加科学可靠的保证整个存储器系统的正常运行，节约测试时间，提升产品开发效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电视机 dram 系统 信号 完整性 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试电视机DRAM系统信号完整性的方法，其特征在于它包括：步骤一、在主芯片SOC端固定数据时钟DQS或数据DQ中一项的输出时间，调整另一项的输出时间，人为调整数据DQ与数据时钟DQS之间的相位PHASE关系，对DRAM中的每一组数据位进行逐一测试，若某一组相位PHASE在正常工作时已比较临界，则其可调整的范围最窄，从而判别其为实际工作中条件最为恶劣的数据位组数；步骤二、以步骤一中得到的最为恶劣的数据位组数进行信号完整性测试。
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