[发明专利]一种用于平板减薄缺陷定量化检测的无参考SH导波方法

摘要

本发明公开了一种用于平板减薄缺陷定量化检测的无参考SH导波方法，利用无参考SH导波对平板进行缺陷重构，并给出缺陷具体位置以及形状，该方法包括：对总场进行模态分离，求解出所需SH导波模态的反射系数：求解无缺陷平板中格林函数，并给出远场的近似解：求解边界积分方程无参考的重构出平板中缺陷形状。本发明涉及定量化检测技术，本发明不需要事先参考缺陷大概位置，从理论出发直接推导出缺陷表达式，达到一次性检测整个构件，为超声导波定量化检测提供高效、精确的方案，在工程中有着重要应用价值，可一次性检测整个结构；可不去除涂装和绝缘层进行检测；无需复杂的旋转和走行装置；对缺陷有较高的敏感度和精度；低耗能和经济性。

主权项

一种用于平板减薄缺陷定量化检测的无参考SH导波方法，利用无参考SH导波对平板进行缺陷重构，并给出缺陷具体位置以及形状，其特征在于，该用于平板减薄缺陷定量化检测的无参考SH导波方法包括以下步骤：对总场进行模态分离，求解出所需SH导波模态的反射系数：利用弹性波不同模态之间的正交性，对总场进行模态分离，求解出所需SH导波模态的反射波位移的幅值，将反射波幅值比入射波幅值得到反射系数；求解无缺陷平板中格林函数，并给出远场的近似解：结合平板上下边界牵引力自由边界条件和波动方程，求解无缺陷平板中格林函数，并给出格林函数远场的近似解；求解边界积分方程无参考的重构出平板中缺陷形状：由动力学互易定理和格林函数远场的近似解，结合提取的反射系数，重构出边界积分方程，再根据高斯定理求解出缺陷表达式。