[发明专利]测量系统及测量方法

摘要

本发明提供一种测量系统及测量方法，用于测量物体的信号传输性能，即测量物体的传输系数和反射系数，根据测量获得的传输系数可以使用现有的反演方法计算获得物体的介电常数。该测量系统包括：发射天线，用于发射电磁波；主路聚焦透镜，用于将获得的电磁波汇聚至中继装置；中继装置，包括物体并用于将透过物体的电磁波传输至透射路聚焦透镜，和/或将被物体反射的电磁波传输至反射路聚焦透镜；透射路聚焦透镜，用于将获得的电磁波汇聚至透射路接收天线；反射路聚焦透镜，用于将获得的电磁波汇聚至反射路接收天线。该测量方法使用上述测量系统。解决了对现有测量系统进行校准时操作难度大的问题。

主权项

1.一种测量系统，用于测量物体的信号传输性能，其特征在于，包括：发射天线，用于发射电磁波；主路聚焦透镜，用于将获得的所述电磁波汇聚至中继装置；所述中继装置，包括所述物体，并用于将透过所述物体的所述电磁波传输至透射路聚焦透镜，和/或将被所述物体反射的所述电磁波传输至反射路聚焦透镜；所述透射路聚焦透镜，用于将获得的所述电磁波汇聚至透射路接收天线；所述反射路聚焦透镜，用于将获得的所述电磁波汇聚至反射路接收天线；所述主路聚焦透镜、所述透射路聚焦透镜和所述反射路聚焦透镜均采用椭球镜；所述椭球镜满足公式其中，a为所述椭球镜长轴的半轴长，b为所述椭球镜短轴的半轴长，从所述椭球镜的中心点出发沿所述长轴延伸的轴为Z轴，从所述中心点出发沿所述短轴延伸的轴为X轴，从所述中心点出发沿垂直于所述X轴和所述Z轴构成的平面延伸的轴为Y轴，z为所述Z轴上任一点到所述中心点的距离，x为所述X轴上任一点到所述中心点的距离，所述y为所述Y轴上任一点到所述中心点的距离；所述椭球镜的两个焦点与所述椭球镜的顶点之间的距离分别为R1和R2，且R1与R2相等，所述椭球镜的反射面直径为D，所述电磁波的波束与所述椭球镜的长轴之间的夹角为θ；所述发射天线、所述透射路接收天线和所述反射路接收天线均采用出射波束相同的喇叭天线；所述喇叭天线的口径d满足公式其中，所述λ为所述电磁波的波长。