[发明专利]加宽输入输出内存的硅穿孔菊炼测试装置

摘要

本发明公开一种加宽输入输出内存的硅穿孔菊炼测试装置，包含一测试头以及一转换接口。转换接口包含信号传输板与插座板。插座板具有多个第一数据接点、多个第二数据接点与多个驱动接点，还具有多个Y形连接第一数据接点与第二数据接点的分享线路，以信号传输板电性连接至测试头的对应输入输出接脚。待测硅穿孔装置包含多个信道，当该待测硅穿孔装置装载于插座板上，信道依序地以菊炼结构串联成组，菊炼结构的串联启始点包含第一数据接点、第二数据接点与驱动接点。因此，本发明利用加宽输入输出内存的硅穿孔菊炼测试装置，可增加测试机台的待测组件数量。

主权项

1.一种加宽输入输出内存的硅穿孔菊炼测试装置，其特征在于，用以测试至少一待测硅穿孔装置，该待测硅穿孔装置包括多个第一通道，该硅穿孔菊炼测试装置包含：一测试头，具有多个输入输出接脚与至少一第一驱动接脚；以及一转换接口，包含一信号传输板与一插座板，该信号传输板具有多个输入输出线路与至少一第一驱动线路，该插座板具有多个第一数据接点、多个第二数据接点与至少一第一驱动接点，该插座板还具有多个分享线路，其Y形连接该多个第一数据接点与该多个第二数据接点，并且该多个输入输出线路连接对应的输入输出接脚与对应的该多个分享线路，该第一驱动线路连接对应的该第一驱动接脚与对应的该第一驱动接点；其中，该插座板还具有多个第一菊炼结构，用以串接该多个第一通道的相同脚位，该多个第一菊炼结构分组对应地断离于该多个第一数据接点、该多个第二数据接点与该第一驱动接点之间；其中，当该待测硅穿孔装置装载于该插座板上，该多个第一通道依序地以该多个第一菊炼结构串联成组，该多个第一菊炼结构的串联启始点包含该多个第一数据接点、该多个第二数据接点与该第一驱动接点。