[发明专利]环形链分时复用测试端口的测试结构

摘要

环形链分时复用测试端口的测试结构，包括一个共用的测试端口和若干个环形链以及用于扫描路径选择且对应各个环形链的数据选择器A、B，各个环形链通过相应的数据选择器A、B构成串联结构；每个环形链分别由若干个扫描单元依次串联而成，每个扫描单元由数据选择器C和触发器组成；通过向数据选择器A、B的控制端输入高/低电平信号，从而改变扫描路径，使得测试结构中的各个环形链工作于三种不同的测试模式：直链扫描模式、环形扫描模式和隐身模式；本发明结构简单、设计巧妙，不仅具有当前通用的测试结构的所有功能，而且结构本身具有低功耗和测试数据重用的特性，大大降低了测试成本和移位功耗，硬件代价大大减小。

主权项

1.环形链分时复用测试端口的测试结构，其特征是：包括一个共用的测试端口和第1环形链、第2环形链、···第n环形链以及用于扫描路径选择且对应各个环形链的数据选择器A和数据选择器B，各个环形链通过相应的数据选择器A、B构成串联结构；每个环形链分别由若干个扫描单元依次串联而成，每个扫描单元由数据选择器C和触发器组成，其中数据选择器A、B、C均为二选一数据选择器；在每个扫描单元中，数据选择器C的输出端连接触发器的输入端，触发器的输出端连接下一个扫描单元中数据选择器C的其中一个输入端，数据选择器C的另一个输入端连接电路输入信号；测试端口分别连接对应第1环形链的数据选择器A和数据选择器B的其中一个输入端，数据选择器A和数据选择器B的另一个输入端分别连接串行在第1环形链上最后一个扫描单元中的触发器的输出端，数据选择器A的输出端连接串行在第1环形链上第一个扫描单元中的数据选择器C的其中一个输入端，数据选择器C的另一个输入端连接电路输入信号；第2环形链、第3环形链、···第n环形链的结构与第1环形链的结构相同，不同之处在于，与上一个环形链相对应的数据选择器B输出端的输出信号作为与下一个环形链相对应的数据选择器A和数据选择器B的其中一个输入端的输入信号；在各个环形链中，数据选择器C的控制端通过输入真值为1的使能信号，从而使得测试结构执行扫描功能；通过向数据选择器A和数据选择器B的控制端输入高/低电平信号，从而改变扫描路径，使得测试结构中的各个环形链工作于三种不同的测试模式：直链扫描模式、环形扫描模式和隐身模式。