[发明专利]一种针对标准长平晶的倾斜测试的测试平台及其标定方法有效

专利信息
申请号: 201610261465.1 申请日: 2016-04-25
公开(公告)号: CN107305119B 公开(公告)日: 2019-06-21
发明(设计)人: 王青;齐思璐;周泉仙;孟令强;石慧;王晓烨 申请(专利权)人: 南京英特飞光电技术有限公司
主分类号: G01B11/30 分类号: G01B11/30
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 朱沉雁
地址: 210014 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提出一种针对标准长平晶的倾斜测试的标定方法和测试平台,从首先根据长平晶型号确定测量时的倾斜角度,使测量布置方式最优;再根据测试长平晶位置确定反射镜位置,利用激光自动准直系统找到反射镜垂直反射光线的位置;使用干涉仪测量时根据不同型号的长平晶对照标定图像,从而确定该长平晶的面型信息。本发明在标定时无需测量全部面型参数,增加了简易性,且在测量时节省空间,有统一的标准,精度高,易于实现。
搜索关键词: 一种 针对 标准 长平晶 倾斜 测试 标定 方法 平台
【主权项】:
1.一种针对标准长平晶的倾斜测试的测试平台,其特征在于:包括自准直激光器(2)、平面反射镜(3)、圆形底座(4)、转盘(6)、0刻线(7)、待测件卡座(13)和视场光阑(14),转盘(6)设置在圆形底座(4)上,与其转动连接,转盘(6)直径小于圆形底座(4)直径,两者之间形成环形凹槽(5),视场光阑(14)固定在转盘(6)的中心,待测长平晶(1)通过待测件卡座(13)固定在转盘(6)上,待测长平晶(1)与视场光阑(14)平行;平面反射镜(3)设置在所述凹槽(5)中;自准直激光器(2)固定在平面反射镜(3)的顶部,0刻线(7)设置在转盘(6)上,且与视场光阑(14)和待测长平晶(1)垂直。
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