[发明专利]相移掩模坯、相移掩模和坯制备方法有效
申请号: | 201610195474.5 | 申请日: | 2016-03-31 |
公开(公告)号: | CN106019808B | 公开(公告)日: | 2021-04-02 |
发明(设计)人: | 稻月判臣;高坂卓郎 | 申请(专利权)人: | 信越化学工业株式会社 |
主分类号: | G03F1/26 | 分类号: | G03F1/26 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 杜丽利 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 在包括透明基板和其上沉积并且相对于亚200nm光具有150‑200°的相移的相移膜的相移掩模坯中,该相移膜由硅、氮和任选的氧构成的硅基材料组成,具有至多70nm的厚度,并且在该基板上沉积该相移膜的前后在该基板的表面的中央区域中提供至多0.2μm的翘曲变化。 | ||
搜索关键词: | 相移 掩模坯 制备 方法 | ||
【主权项】:
相移掩模坯,其包括152mm的方形且6.35mm厚的透明基板和在该基板上沉积并且相对于波长至多200nm的光具有150‑200°的相移的相移膜,其中所述相移膜包括由硅和氮构成的硅基材料或者由硅、氮和氧构成的硅基材料组成的至少一层,并且具有至多70nm的厚度,并且在该基板上沉积相移膜之前与该基板上存在该相移膜之间在该基板的表面上142mm方形的中央区域中提供绝对值至多0.2μm的翘曲变化(△TIR)。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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