[发明专利]浮空器囊体材料老化试验装置有效

专利信息
申请号: 201610144959.1 申请日: 2016-03-14
公开(公告)号: CN105784577B 公开(公告)日: 2018-07-24
发明(设计)人: 聂营;王生;吕静;高衡;张远平 申请(专利权)人: 中国科学院光电研究院
主分类号: G01N17/00 分类号: G01N17/00
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 李相雨
地址: 100094 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种浮空器囊体材料老化试验装置,包括:内套筒和外套筒,内套筒位于外套筒的内部;内套筒的外壁与外套筒的内壁之间通过第一支撑件连接;内套筒的外壁用于支撑待测浮空器副气囊样品材料;外套筒的外壁用于支撑待测浮空器主气囊样品材料;待测浮空器主气囊样品材料包裹待测浮空器副气囊样品材料,以进行浮空器囊体材料的老化试验。本发明实施方式提供的技术方案,使主气囊样品材料包裹副气囊样品材料,既可以使不同部位的主气囊样品材料得到不同的辐照度,又保证了副气囊样品材料处于主气囊材料包裹的无对流环境中。因而本发明实施方式提供的一种浮空器囊体材料老化试验装置使浮空器囊体材料的老化试验更加符合实际情况。
搜索关键词: 浮空器囊体 材料 老化 试验装置
【主权项】:
1.一种浮空器囊体材料老化试验装置,其特征在于,包括:内套筒和外套筒,所述内套筒位于所述外套筒的内部;所述内套筒的外壁与所述外套筒的内壁之间通过第一支撑件连接;所述内套筒的外壁用于支撑待测浮空器副气囊样品材料;所述外套筒的外壁用于支撑待测浮空器主气囊样品材料;所述待测浮空器主气囊样品材料包裹所述待测浮空器副气囊样品材料,以进行所述浮空器囊体材料的老化试验。
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