[发明专利]一种大斜视角SAR的改进Omega-K成像方法有效

专利信息
申请号: 201610141400.3 申请日: 2016-03-11
公开(公告)号: CN105759267B 公开(公告)日: 2019-07-09
发明(设计)人: 朱岱寅;聊蕾;杨鸣冬;石佳宁;左潇丽;李威;许至威 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 朱小兵
地址: 210016 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提出了一种大斜视角SAR的改进Omega‑K成像方法,通过对原始回波数据S先后进行距离向快速傅里叶变换、距离向脉冲压缩、距离向离散傅里叶逆变换、运动补偿、二维快速傅里叶变换和一致压缩,并计算频谱偏移量f′τ,min来修正Stolt插值,再对每个数据点进行距离向离散傅里叶逆变换,并进行线性相位补偿和方位向离散傅里叶逆变换,得到最终的成像结果。本发明的方法节省硬件存储资源,运算简单,保证成像质量,算法效率高。
搜索关键词: 一种 斜视 sar 改进 omega 成像 方法
【主权项】:
1.一种大斜视角SAR的改进Omega‑K成像方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:获取原始回波数据S;步骤2:对原始回波数据S先后进行距离向快速傅里叶变换FFT、距离向脉冲压缩、距离向离散傅里叶逆变换IFFT、运动补偿、二维FFT和一致压缩;步骤3:计算频谱偏移量f′τ,min,修正Stolt插值;步骤4:对每个数据点进行距离向IFFT,将数据变换到距离多普勒域,得到数据点Sik;步骤5:根据f′τ,min进行线性相位补偿,完成距离向频谱校正,得到数据点S′ik;步骤6:对数据点S′ik进行方位向IFFT,得到最终的成像结果。
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