[发明专利]自动调整用于x射线检测器的信号分析参数有效
| 申请号： | 201610091401.1 | 申请日： | 2016-02-18 |
| 公开（公告）号： | CN105916283B | 公开（公告）日： | 2019-05-03 |
| 发明（设计）人： | T·弗洛尔;S·卡普勒 | 申请（专利权）人： | 西门子股份公司 |
| 主分类号： | H05G1/30 | 分类号： | H05G1/30;A61B6/00;A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华;潘聪 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 描述了一种用于自动确定用于x射线检测器(16)的信号分析参数的调整性设定的方法(400)。采用该方法(400)，获取与待检查对象(O)的尺寸、在待检查对象(O)中的x射线衰减、待检查对象(O)的检查性质和检查区域有关的信息。然后基于所获取的信息来确定信号分析参数值(SPW)。还描述了一种用于自动设定x射线检测器(16)的信号分析参数的方法(500)。还描述了一种用于确定用于x射线检测器(16)的信号分析参数(SP)的调整性设定的设施(40)。还描述了一种x射线系统(1)。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 调整 用于 射线 检测器 信号 分析 参数 | ||
【主权项】：
1.一种用于自动确定用于x射线检测器(16)的信号分析参数(SP)的调整性设定的方法(400)，具有下列步骤：‑获取与下列检查参数组中的至少一组有关的信息：‑待检查对象(O)的尺寸(ABD)，‑在所述待检查对象(O)中的x射线衰减(RSD)，‑所述待检查对象(O)的检查性质(UAD)，‑所述待检查对象(O)的检查区域(UBD)，‑基于所获取的信息来自动确定信号分析参数值(SPW)；其中所述x射线衰减基于所述对象的至少一个测量。
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