[发明专利]摄像装置有效

专利信息
申请号: 201610086746.8 申请日: 2016-02-16
公开(公告)号: CN106057840B 公开(公告)日: 2021-07-27
发明(设计)人: 留河优子;玉置德彦 申请(专利权)人: 松下知识产权经营株式会社
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 徐殿军
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 有关本发明的一方式的摄像装置具备:半导体基板;光电转换元件,包括第1电极、第2电极及上述第1电极与上述第2电极之间的光电转换膜,被上述半导体基板支承,通过对入射光进行光电转换而生成信号;多层配线构造,包括设在上述半导体基板与上述光电转换元件的上述第2电极之间的上部配线层及下部配线层;信号检测电路,设在上述半导体基板及上述多层配线构造内,包括信号检测晶体管及第1电容元件,检测上述信号;上述信号检测晶体管包括栅极、以及设在上述半导体基板上的源极区域及漏极区域;上述第1电容元件包括第1下部电极、第1上部电极、及配置在上述第1上部电极与上述第1下部电极之间的电介质膜;上述上部配线层配置在上述光电转换元件的上述第2电极与上述信号检测晶体管的上述栅极之间;上述上部配线层包含上述第1上部电极。
搜索关键词: 摄像 装置
【主权项】:
一种摄像装置,其特征在于,具备:半导体基板;光电转换元件,包括第1电极、第2电极及上述第1电极与上述第2电极之间的光电转换膜,被上述半导体基板支承,通过对入射光进行光电转换而生成信号;多层配线构造,包括设在上述半导体基板与上述光电转换元件的上述第2电极之间的上部配线层及下部配线层;信号检测电路,设在上述半导体基板及上述多层配线构造内,包括信号检测晶体管及第1电容元件,检测上述信号;上述信号检测晶体管包括栅极、以及设在上述半导体基板上的源极区域及漏极区域;上述第1电容元件包括第1下部电极、第1上部电极、以及配置在上述第1上部电极与上述第1下部电极之间的电介质膜;上述上部配线层配置在上述光电转换元件的上述第2电极与上述信号检测晶体管的上述栅极之间;上述上部配线层包含上述第1上部电极。
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