[发明专利]采用并行积聚的俘获离子迁移谱仪有效
| 申请号： | 201610082658.0 | 申请日： | 2016-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN105869983B | 公开（公告）日： | 2018-04-10 |
| 发明（设计）人： | 梅尔文·安德鲁·帕克;迈克尔·舒伯特 | 申请（专利权）人： | 布鲁克道尔顿有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/02 | 分类号： | H01J49/02;H01J49/04 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 | 代理人： | 顾丽波,井杰 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及俘获离子迁移谱仪的操作，该俘获离子迁移谱仪通过气流对抗反作用直流电场势垒来推动离子，优选的是与作为离子检测器的质量分析器相结合。本发明提供了一种位于俘获离子迁移谱仪上游的附加射频离子阱，其中，该射频离子阱作为积聚单元而与俘获离子迁移谱仪并行工作，从而能够在离子迁移谱仪中分析第一组离子，同时在积聚单元中收集来自离子源的第二组离子。 | ||
| 搜索关键词： | 采用 并行 积聚 俘获 离子 迁移 | ||
【主权项】：
一种操作俘获离子迁移谱仪的方法，包括步骤：(a)在射频离子阱中对来自离子源的离子进行积聚；(b)将至少一部分积聚的离子转移到俘获离子迁移分离器中，转移的离子将在其中被射频场径向地限定，并被气流推向第一轴向直流电场势垒的上升沿，从而使转移的离子按离子迁移率在空间上沿上升沿分离；以及(c)在来自离子源的离子进一步在射频离子阱中积聚的同时，通过降低第一轴向直流电场势垒的高度来获得转移的离子的离子迁移谱，其中，在步骤(a)和步骤(c)期间，离子在轴向上被气流推向第二轴向直流电场势垒的上升沿，其中，第二轴向直流电场势垒的高度被调整为沿第二轴向直流电场势垒的上升沿俘获离子，并按照离子迁移率对离子进行空间分离。
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