[发明专利]芯片调试方法和装置有效
| 申请号： | 201610065752.5 | 申请日： | 2016-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN105740117B | 公开（公告）日： | 2018-05-25 |
| 发明（设计）人： | 侯建桥 | 申请（专利权）人： | 硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/267 | 分类号： | G06F11/267 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 韩建伟;张永明 |
| 地址： | 100086 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片调试方法和装置。其中，该方法包括：接收调试命令选择信号，其中，调试命令选择信号为用于从调试命令集合中选择任意一个或者多个调试命令的信号，调试命令为用于调试芯片的命令；将按照调试命令选择信号从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令发送至待调试芯片；以及利用从调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令调试待调试芯片。本发明解决了相关技术基于串口终端采用手动输入调试命令对芯片进行调试，导致芯片调试效率低的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 调试命令 调试 芯片调试 选择信号 芯片 方法和装置 集合 串口终端 发送 | ||
【主权项】：
1.一种芯片调试方法，其特征在于，包括：接收调试命令选择信号，其中，所述调试命令选择信号为用于从调试命令集合中选择任意一个或者多个调试命令的信号，所述调试命令为用于调试芯片的命令；将按照所述调试命令选择信号从所述调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令发送至待调试芯片；以及利用从所述调试命令集合中选择的一个或者多个调试命令调试所述待调试芯片,在接收调试命令选择信号之前，所述方法还包括：预先建立至少一个宏命令，所述宏命令中包括至少一个自定义命令和/或至少一个所述调试命令；以及在客户端界面分配宏命令选择区域，其中，所述宏命令选择区域中设置有至少一个所述宏命令触控区，每个宏命令触控区对应一个宏命令，其中，所述调试命令选择信号为触控所述宏命令选择区域中任意一个宏命令触控区触发的信号，在接收到所述调试命令选择信号时，将被触控的宏命令触控区对应的宏命令发送至所述待调试芯片。
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