[发明专利]一种基于孔壁图像的相邻钻孔结构面连通性分析方法有效

专利信息
申请号: 201610056069.5 申请日: 2016-01-27
公开(公告)号: CN105741329B 公开(公告)日: 2017-04-19
发明(设计)人: 韩增强;王川婴;邹先坚 申请(专利权)人: 中国科学院武汉岩土力学研究所
主分类号: G06T7/40 分类号: G06T7/40
代理公司: 武汉宇晨专利事务所42001 代理人: 李鹏,王敏锋
地址: 430071 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种基于孔壁图像的相邻钻孔结构面连通性分析方法,步骤是获取结构面参数信息;局部坐标系下结构面特征点的坐标计算;全局坐标系下结构面特征点的坐标归一化处理;计算两两特征点之间的距离,初步分析结构面的连通性;连通性再判断。本发明对初步分析具备连通性的结构面进行特征匹配,进一步确认结构面的连通性。方法简单易行,稳定可靠,操作简便,工作效率高,能够快速准确地对钻孔间的结构面进行连通性分析。
搜索关键词: 一种 基于 图像 相邻 钻孔 结构 连通性 分析 方法
【主权项】:
一种基于孔壁图像的相邻钻孔结构面连通性分析方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、根据第一钻孔的钻孔孔壁的平面展开图获得第一结构面倾向值α1、第一结构面倾角值β1、第一结构面位置深度d1;根据第二钻孔的钻孔孔壁的平面展开图获得第二结构面倾向值α2、第二结构面倾角值β2、第二结构面位置深度d2;步骤2、设定第一局部坐标系,第一局部坐标系的原点为第一钻孔孔口中心点,X轴正向指向正东方向,Y轴正向指向正北方向,Z轴正向垂直向上;设定第二局部坐标系,第二局部坐标系的原点为第二钻孔孔口中心点,X轴正向指向正东方向,Y轴正向指向正北方向,Z轴正向垂直向上,通过第一结构面倾向值α1、第一结构面倾角值β1、第一结构面位置深度d1获得获得第一局部坐标系下的第一结构面特征点F1L(X1L,Y1L,Z1L);通过第二结构面倾向值α2、第二结构面倾角值β2、第二结构面位置深度d2获得获得第二局部坐标系下的第二结构面特征点F2L(X2L,Y2L,Z2L);步骤3、选取一点作为全局坐标系原点,全局坐标系原点的X轴正向指向正东方向,Y轴正向指向正北方向,Z轴正向垂直向上,根据第一结构面特征点F1L(X1L,Y1L,Z1L)获得第一结构面所在平面在全局坐标系下的方程,进而获得第一结构面在全局坐标系下对应的特征点F1(X1,Y1,Z1);根据第二结构面特征点F2L(X2L,Y2L,Z2L)获得第二结构面所在平面在全局坐标系下的方程,进而获得第二结构面在全局坐标系下对应的特征点F2(X2,Y2,Z2);所述的第一结构面在全局坐标系下对应的特征点F1(X1,Y1,Z1)基于以下公式获得:X1=X1L*(1+X1L*XO1L+Y1L*YO1L+Z1L*ZO1LX1L2+Y1L2+Z1L2)]]>Y1=Y1L*(1+X1L*XO1L+Y1L*YO1L+Z1L*ZO1LX1L2+Y1L2+Z1L2)]]>Z1=Z1L*(1+X1L*XO1L+Y1L*YO1L+Z1L*ZO1LX1L2+Y1L2+Z1L2)]]>其中,XO1L,YO1L,ZO1L为第一局部坐标系的原点在全局坐标系中的坐标;所述的第二结构面在全局坐标系下对应的特征点F2(X2,Y2,Z2)基于以下公式获得:X2=X2L*(1+X2L*XO2L+Y2L*YO2L+Z2L*ZO2LX2L2+Y2L2+Z2L2)]]>Y2=Y2L*(1+X2L*XO2L+Y2L*YO2L+Z2L*ZO2LX2L2+Y2L2+Z2L2)]]>Z2=Z2L*(1+X2L*XO2L+Y2L*YO2L+Z2L*ZO2LX2L2+Y2L2+Z2L2)]]>其中,XO2L,YO2L,ZO2L为第二局部坐标系的原点在全局坐标系中的坐标,所述的第一局部坐标系下的第一结构面特征点F1L(X1L,Y1L,Z1L)基于以下公式获得:X1L=d1cosβ1sinβ1cosα1Y1L=d1cosβ1sinβ1sinα1Z1L=d1cosβ1cosβ1所述的第二局部坐标系下的第二结构面特征点F2L(X2L,Y2L,Z2L)基于以下公式获得:X2L=d2cosβ2sinβ2cosα2Y2L=d2cosβ2sinβ2sinα2Z2L=d2cosβ2cosβ2步骤4、设定特征点F1(X1,Y1,Z1)与特征点F2(X2,Y2,Z2)之间的距离为|F1F2|,若|F1F2|小于判别标准ε,则第一结构面与第二结构面初步分析具备连通性;若|F1F2|大于等于判别标准ε,则第一结构面与第二结构面不具备连通性。
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