[发明专利]一种单颗粒独居石的双测年方法在审

专利信息
申请号: 201610048310.X 申请日: 2016-01-25
公开(公告)号: CN105572217A 公开(公告)日: 2016-05-11
发明(设计)人: 金超;刘浪涛;白峰青;张贝贝;王冬利;魏利娜 申请(专利权)人: 河北工程大学
主分类号: G01N27/64 分类号: G01N27/64
代理公司: 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 11385 代理人: 董芙蓉
地址: 056038 河北*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明公开了一种单颗粒独居石的双测年方法,首先可以得到独居石所在的花岗岩地质体的结晶年龄,即岩浆侵入事件发生的时间;其次又可以获得这颗独居石的(U-Th)/He年龄,它代表该花岗岩地质体抬升冷却的年龄,即该地质体发生快速构造抬升的时间。该方法通过单颗粒独居石U-Pb和(U-Th)/He双测年可以同时获得独居石所在地质体的侵入历史和构造抬升历史,具有重要的地质意义。
搜索关键词: 一种 颗粒 独居石 双测年 方法
【主权项】:
一种单颗粒独居石的双测年方法,其特征在于:包括以下步骤:(1)选择晶型完整且不含包裹体的单颗粒独居石,借助数码相机拍照,获得独居石颗粒精确的形状和尺寸,用于计算α粒子射出校正参数FT,计算公式为:<mrow><msub><mi>F</mi><mi>T</mi></msub><mo>=</mo><mn>1</mn><mo>-</mo><mfrac><mrow><mn>3</mn><mi>S</mi></mrow><mrow><mn>4</mn><mi>R</mi></mrow></mfrac><mo>+</mo><mfrac><msup><mi>S</mi><mn>3</mn></msup><mrow><mn>16</mn><msup><mi>R</mi><mn>3</mn></msup></mrow></mfrac></mrow>其中FT:α粒子射出校正参数;S:独居石中U和Th发生衰变时α粒子的停止距离;R:单颗粒独居石晶体的内切球半径,为了更加精确地计算FT,R的值最好为60‑70μm;(2)将单颗粒独居石固定在双面胶带上,用激光剥蚀电感耦合等离子质谱仪(LA‑ICPMS)进行U‑Pb测年;用激光直接照射独居石颗粒的外表面,束斑半径为20μm,烧蚀坑的深度为约20μm;对于年龄小于1300Ma的独居石,采用206Pb/238U来代表其U‑Pb年龄;对于年龄大于1300Ma的独居石,采用207Pb/206Pb来代表其U‑Pb年龄;(3)把上述单颗粒独居石剥离下来,放入1mm3金属箔容器中,用激光加热至1300℃,持续20分钟,将独居石中的99%以上的4He释放出来;用10ncc(1ncc=1×10‑9ml)的3He对释放出来的4He进行稀释,用活性炭对4He和3He进行聚集和深低温(16K)纯化;然后用四极质谱仪(QMS)在静态模式下测量4He/3He的比值,获得4He的含量;(4)将释放出4He之后的独居石放入经过校准的233U和229Th溶液中,加入30%的硝酸进行溶解,然后用等离子质谱仪(ICPMS)测量238U/233U、235U/233U和232Th/229Th的比值,获得238U、235U和232Th的含量;(5)根据下式计算出(U‑Th)/He年龄;<mrow><msub><mi>N</mi><msub><mn>4</mn><mrow><mi>H</mi><mi>e</mi></mrow></msub></msub><mo>=</mo><mn>8</mn><mo>&CenterDot;</mo><msub><mi>N</mi><msub><mn>238</mn><mi>U</mi></msub></msub><mo>&CenterDot;</mo><mrow><mo>(</mo><msup><mi>e</mi><mrow><msub><mi>&lambda;</mi><mn>8</mn></msub><mo>&CenterDot;</mo><mi>t</mi></mrow></msup><mo>-</mo><mn>1</mn><mo>)</mo></mrow><mo>+</mo><mn>7</mn><mo>&CenterDot;</mo><msub><mi>N</mi><msub><mn>235</mn><mi>U</mi></msub></msub><mo>&CenterDot;</mo><mrow><mo>(</mo><msup><mi>e</mi><mrow><msub><mi>&lambda;</mi><mn>5</mn></msub><mo>&CenterDot;</mo><mi>t</mi></mrow></msup><mo>-</mo><mn>1</mn><mo>)</mo></mrow><mo>+</mo><mn>6</mn><mo>&CenterDot;</mo><msub><mi>N</mi><msub><mn>232</mn><mrow><mi>T</mi><mi>h</mi></mrow></msub></msub><mo>&CenterDot;</mo><mrow><mo>(</mo><msup><mi>e</mi><mrow><msub><mi>&lambda;</mi><mn>2</mn></msub><mo>&CenterDot;</mo><mi>t</mi></mrow></msup><mo>-</mo><mn>1</mn><mo>)</mo></mrow></mrow>其中:测得的4He的原子数;测得的238U的原子数;测得的235U的原子数;测得的232Th的原子数;λ8238U的衰变常数;λ5235U的衰变常数;λ2232Th的衰变常数;t:衰变持续的时间,即(U‑Th)/He年龄;(6)根据α粒子射出校正参数对测量值进行校正;<mrow><mi>T</mi><mo>=</mo><mfrac><msub><mi>T</mi><mi>m</mi></msub><msub><mi>F</mi><mi>T</mi></msub></mfrac></mrow>其中:T:经过校正的(U‑Th)/He年龄;Tm:测量获得的(U‑Th)/He年龄;FT:α粒子射出校正参数。
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