[发明专利]一种单颗粒独居石的双测年方法在审
申请号: | 201610048310.X | 申请日: | 2016-01-25 |
公开(公告)号: | CN105572217A | 公开(公告)日: | 2016-05-11 |
发明(设计)人: | 金超;刘浪涛;白峰青;张贝贝;王冬利;魏利娜 | 申请(专利权)人: | 河北工程大学 |
主分类号: | G01N27/64 | 分类号: | G01N27/64 |
代理公司: | 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 11385 | 代理人: | 董芙蓉 |
地址: | 056038 河北*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本发明公开了一种单颗粒独居石的双测年方法,首先可以得到独居石所在的花岗岩地质体的结晶年龄,即岩浆侵入事件发生的时间;其次又可以获得这颗独居石的(U-Th)/He年龄,它代表该花岗岩地质体抬升冷却的年龄,即该地质体发生快速构造抬升的时间。该方法通过单颗粒独居石U-Pb和(U-Th)/He双测年可以同时获得独居石所在地质体的侵入历史和构造抬升历史,具有重要的地质意义。 | ||
搜索关键词: | 一种 颗粒 独居石 双测年 方法 | ||
【主权项】:
一种单颗粒独居石的双测年方法,其特征在于:包括以下步骤:(1)选择晶型完整且不含包裹体的单颗粒独居石,借助数码相机拍照,获得独居石颗粒精确的形状和尺寸,用于计算α粒子射出校正参数FT,计算公式为:![]()
其中FT:α粒子射出校正参数;S:独居石中U和Th发生衰变时α粒子的停止距离;R:单颗粒独居石晶体的内切球半径,为了更加精确地计算FT,R的值最好为60‑70μm;(2)将单颗粒独居石固定在双面胶带上,用激光剥蚀电感耦合等离子质谱仪(LA‑ICPMS)进行U‑Pb测年;用激光直接照射独居石颗粒的外表面,束斑半径为20μm,烧蚀坑的深度为约20μm;对于年龄小于1300Ma的独居石,采用206Pb/238U来代表其U‑Pb年龄;对于年龄大于1300Ma的独居石,采用207Pb/206Pb来代表其U‑Pb年龄;(3)把上述单颗粒独居石剥离下来,放入1mm3金属箔容器中,用激光加热至1300℃,持续20分钟,将独居石中的99%以上的4He释放出来;用10ncc(1ncc=1×10‑9ml)的3He对释放出来的4He进行稀释,用活性炭对4He和3He进行聚集和深低温(16K)纯化;然后用四极质谱仪(QMS)在静态模式下测量4He/3He的比值,获得4He的含量;(4)将释放出4He之后的独居石放入经过校准的233U和229Th溶液中,加入30%的硝酸进行溶解,然后用等离子质谱仪(ICPMS)测量238U/233U、235U/233U和232Th/229Th的比值,获得238U、235U和232Th的含量;(5)根据下式计算出(U‑Th)/He年龄;![]()
其中:
测得的4He的原子数;
测得的238U的原子数;
测得的235U的原子数;
测得的232Th的原子数;λ8:238U的衰变常数;λ5:235U的衰变常数;λ2:232Th的衰变常数;t:衰变持续的时间,即(U‑Th)/He年龄;(6)根据α粒子射出校正参数对测量值进行校正;![]()
其中:T:经过校正的(U‑Th)/He年龄;Tm:测量获得的(U‑Th)/He年龄;FT:α粒子射出校正参数。
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