[发明专利]二维检测锡膏印刷的定位方法有效

专利信息
申请号: 201610041525.9 申请日: 2016-01-22
公开(公告)号: CN106996911B 公开(公告)日: 2019-08-20
发明(设计)人: 许彬;张慧;杨世扬 申请(专利权)人: 名硕电脑(苏州)有限公司;和硕联合科技股份有限公司
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17;G01N21/25;G01B11/06
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陈亮
地址: 215011 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种二维检测锡膏印刷的定位方法,以二维相机利用标准样本来对待测样本进行定位,包括下列步骤:(a)从标准样本中摘取至少一子模板;(b)使用子模板匹配待测样本以取得对应于子模板的待测区域,并记录对应于待测区域的待测区域位置信息;(c)从子模板中摘取至少一下阶子模板;(d)使用下阶子模板去匹配待测样本的待测区域,以取得对应于下阶子模板的至少一下阶待测区域,并记录对应于下阶待测区域的下阶待测位置信息;(e)当下阶待测区域为待测目标区域时,综合待测区域位置信息及下阶待测位置信息以决定待测目标区域的相对位置信息。
搜索关键词: 二维 检测 印刷 定位 方法
【主权项】:
1.一种二维检测锡膏印刷的定位方法,以一二维相机利用一标准样本来对一待测样本进行定位,其特征在于,该方法包括下列步骤:(a)从该标准样本中摘取至少一子模板;(b)使用该至少一子模板匹配该待测样本以取得对应于该至少一子模板的至少一待测区域,并记录对应于该待测区域的一待测区域位置信息;(c)从该至少一子模板中摘取至少一下阶子模板;(d)使用该至少一下阶子模板去匹配该待测样本的该待测区域,以取得对应于该至少一下阶子模板的至少一下阶待测区域,并记录对应于该下阶待测区域的一下阶待测位置信息;(e)当该下阶待测区域为一待测目标区域时,则综合该待测区域位置信息及该下阶待测位置信息以决定该待测目标区域的一相对位置信息;如该下阶待测区域非该待测目标模板,则重复进行步骤(c)至(e);其中,步骤(b)更包括通过几何坐标与像素坐标的转换,把该至少一子模板的几何位置信息映射到该待测样本上,以取得对应于该待测区域的该待测区域位置信息。
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