[发明专利]一种脉冲波形测试方法有效
| 申请号： | 201610035027.3 | 申请日： | 2016-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN105675985B | 公开（公告）日： | 2019-03-29 |
| 发明（设计）人： | 郑云龙;桑泽华;林敏;杨根庆;邹世昌 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号： | G01R23/16 | 分类号： | G01R23/16 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 余明伟 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种脉冲波形测试方法，包括：收集单粒子轰击信息，并产生单粒子瞬态脉冲；检测所述单粒子瞬态脉冲在不同电压值时的脉冲宽度，并产生相应宽度的脉冲信号；根据不同电压值时产生的相应宽度的脉冲信号标定当前电压值时所述单粒子瞬态脉冲的脉冲宽度；将不同电压值时标定的脉冲宽度整合并还原所述单粒子瞬态脉冲的波形。本发明的脉冲波形测试方法测量出了单粒子效应的真实波形，可以以此建立更精准的单粒子效应瞬态电流脉冲模型，对抗辐射电路的加固设计具有重要参考意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 脉冲 波形 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种脉冲波形测试方法，其特征在于，所述脉冲波形测试方法至少包括：收集单粒子轰击信息，并产生单粒子瞬态脉冲；采用不同阈值的缓冲器分别检测所述单粒子瞬态脉冲在不同电压值时的脉冲宽度，并产生相应宽度的脉冲信号；根据不同电压值时产生的相应宽度的脉冲信号标定当前电压值时所述单粒子瞬态脉冲的脉冲宽度；将不同电压值时标定的脉冲宽度整合并还原所述单粒子瞬态脉冲的波形。
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