[发明专利]温度测量装置、温度测量方法和存储介质有效
| 申请号： | 201580079711.5 | 申请日： | 2015-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN107615028B | 公开（公告）日： | 2019-12-10 |
| 发明（设计）人： | 宇野和史;笠岛丈夫;有冈孝祐;福田裕幸 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | G01K11/32 | 分类号： | G01K11/32 |
| 代理公司： | 11127 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 黄纶伟;黄志坚 |
| 地址： | 日本神奈*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 温度测量装置具有：检测器，其从光入射到光纤的第1端的情况下的后向散射光检测第1斯托克斯成分和第1反斯托克斯成分，从光入射到光纤的第2端的情况下的后向散射光来检测第2斯托克斯成分和第2反斯托克斯成分；校正部，在光纤的包含第1端侧的局部区域的采样点在内的规定区域中，在第1斯托克斯成分及第1反斯托克斯成分与第2反斯托克斯成分之间的相关度中的至少任意一方的大小为阈值以下的情况下，所述校正部将第2反斯托克斯成分置换为与第1斯托克斯成分、第1反斯托克斯成分、第2斯托克斯成分对应的值；以及测量部，其使用第1斯托克斯成分、第1反斯托克斯成分、第2斯托克斯成分和通过校正部被置换后的第2反斯托克斯成分来测量采样点的温度。 | ||
| 搜索关键词： | 温度 测量 装置 测量方法 程序 | ||
【主权项】：
1.一种温度测量装置，其特征在于，该温度测量装置具有：/n检测器，其从光入射到光纤的第1端的情况下的后向散射光中检测第1斯托克斯成分和第1反斯托克斯成分，从光入射到所述光纤的第2端的情况下的后向散射光中检测第2斯托克斯成分和第2反斯托克斯成分；/n校正部，在所述光纤的包含所述第1端侧的局部区域的采样点在内的规定区域中，在所述第1斯托克斯成分及所述第1反斯托克斯成分与所述第2反斯托克斯成分之间的相关度中的至少任意一方的大小为第1阈值以下的情况下，该校正部将所述第2反斯托克斯成分置换为与所述第1斯托克斯成分、所述第1反斯托克斯成分和所述第2斯托克斯成分对应的值；以及/n测量部，其使用所述第1斯托克斯成分、所述第1反斯托克斯成分、所述第2斯托克斯成分和通过所述校正部被置换后的所述第2反斯托克斯成分来测量所述采样点的温度。/n
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