[发明专利]用于检查在背景中的对象的对象特性的方法在审
申请号: | 201580076850.2 | 申请日: | 2015-12-22 |
公开(公告)号: | CN107278273A | 公开(公告)日: | 2017-10-20 |
发明(设计)人: | T·果戈拉;D·舍恩贝克;S·科尔;J·诺伊曼 | 申请(专利权)人: | 喜利得股份公司 |
主分类号: | G01V3/15 | 分类号: | G01V3/15;G01C15/00 |
代理公司: | 北京思益华伦专利代理事务所(普通合伙)11418 | 代理人: | 常殿国,郭红丽 |
地址: | 列支敦*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于借助于设备(10)检查在背景(18)中的对象(23、25)的对象特性的方法,所述设备具有探测装置(11)、定位装置(12)和控制装置(13),其中,在第一步骤中,选出具有待检查的第一对象特性和第一设定坐标的第一对象,在第二步骤中,借助于所述定位装置(12)确定所述探测装置(11)的当前的位置,在第三步骤中,由所述控制装置(13)基于所述探测装置(11)的当前的位置确定当前的探测场,和在第四步骤中,所述控制装置(13)比较所述第一设定坐标与所述探测装置(11)的当前的探测场。 | ||
搜索关键词: | 用于 检查 背景 中的 对象 特性 方法 | ||
【主权项】:
一种用于借助于设备(10)检查在背景(18)中的对象(23、25)的对象特性的方法,所述设备具有探测装置(11)、定位装置(12)和控制装置(13),其中,在第一步骤中,选出具有至少一个待检查的第一对象特性(A1)和第一设定坐标(Eol,Eul)的第一对象(23),在第二步骤中,借助于所述定位装置(12)确定所述探测装置(11)在空间(14)中的当前的位置(Pakt),在第三步骤中,由所述控制装置(13)基于所述探测装置(11)的当前的位置(Pakt)确定当前的探测场(27),和在第四步骤中,所述控制装置(13)比较所述第一设定坐标(Eol,Eul)与所述探测装置(11)的所述当前的探测场(27)。
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