[发明专利]谷粒品级判别装置

摘要

本发明目的在于提高谷粒品级判别装置的谷粒(G)的品级判别精度。该装置具备：光学部(3)，向谷粒(G)照射光，由受光传感器接受来自谷粒(G)的反射光和/或透过光，从而从谷粒(G)的表面侧、背面侧获得用于上述品级测定的信息；以及品级判别部(7)，基于上述信息来判别谷粒(G)的品级。通过由一个光学部(3)同时获得上述表面侧信息和背面侧信息，从而防止随着谷粒(G)的移动、姿势的变化的取得信息的偏差，将用于修正上述信息的基准板移出谷粒的移动路径而防止脏污或破损，从而防止上述信息的紊乱，而且设置特别的基准板供谷粒(G)的侧面信息用，来提高侧面信息的精度等，从而提高谷粒(G)的品级判别精度。

主权项

一种谷粒品级判别装置，具备：光学部，具有向谷粒照射光的多个光源、及接受从上述光源照射出的光的来自上述谷粒的反射光和/或透过光的受光传感器；以及品级判别部，基于上述受光传感器的受光而判别上述谷粒的品级，上述谷粒品级判别装置的特征在于，就上述光学部而言，上述光源包含指定光源，从上述谷粒的一面侧照射用于指定谷粒的平面形状所必要的预定波长的指定光，上述受光传感器包含：第一受光部，接受来自上述谷粒的另一面侧的反射光和/或透过光；以及第二受光部，接受来自上述谷粒的一面侧的反射光和/或透过光，在上述谷粒的一面侧配备有使上述指定光源照射的上述指定光透过或对该指定光进行反射的光学滤光片，上述指定光源经由上述光学滤光片而从上述谷粒的一面侧照射上述指定光，上述第一受光部接受包括从上述谷粒的一面侧照射的来自上述指定光源的上述指定光的透过光的来自上述谷粒的另一面侧的反射光和/或透过光，上述第二受光部经由上述光学滤光片而接受来自上述谷粒的一面侧的反射光和/或透过光。